Skip to main menu
Skip to search engine
Skip to content
Skip to footer
en
pl
en
pl
Contrast
Login
en
pl
en
pl
Login
Contrast
Back
About project
About project
Mission
Partners and organization
Projects
Technical information
FAQ
Copyrights
Regulations
Preservation and archive policy
Privacy policy
Declaration of accessibility
Contact
Collections
Collections
Electronic Materials
ITME works
Doctoral and postdoctoral dissertations
Articles
Books
Indexes
Indexes
Title
Subtitle
Creator
Contributor
Publisher
Place of publishing
Date issued/created
Date on-line publ.
Date copyrighted
Date available
Description
Thesis degree information
Degree name
Level of degree
Degree discipline
Degree grantor
Subject and Keywords
Abstract
References
Relation
Citation
Volume
Issue
Start page
End page
Resource type
Format
Resource Identifier
Source
Language
Language of abstract
Coverage
Spatial coverage
Temporal coverage
Rights
Terms of use
Copyright holder
Digitizing institution
Original in
Projects co-financed by
Tags
Recently viewed
Recently viewed
Objects
Collections
RCIN Repositories
RCIN Repositories
INSTYTUT ARCHEOLOGII I ETNOLOGII POLSKIEJ AKADEMII NAUK
INSTYTUT BADAŃ LITERACKICH POLSKIEJ AKADEMII NAUK
INSTYTUT BADAWCZY LEŚNICTWA
INSTYTUT BIOLOGII DOŚWIADCZALNEJ IM. MARCELEGO NENCKIEGO POLSKIEJ AKADEMII NAUK
INSTYTUT BIOLOGII SSAKÓW POLSKIEJ AKADEMII NAUK
INSTYTUT CHEMII FIZYCZNEJ PAN
INSTYTUT CHEMII ORGANICZNEJ PAN
INSTYTUT FILOZOFII I SOCJOLOGII PAN
INSTYTUT GEOGRAFII I PRZESTRZENNEGO ZAGOSPODAROWANIA PAN
INSTYTUT HISTORII im. TADEUSZA MANTEUFFLA POLSKIEJ AKADEMII NAUK
INSTYTUT JĘZYKA POLSKIEGO POLSKIEJ AKADEMII NAUK
INSTYTUT MATEMATYCZNY PAN
INSTYTUT MEDYCYNY DOŚWIADCZALNEJ I KLINICZNEJ IM.MIROSŁAWA MOSSAKOWSKIEGO POLSKIEJ AKADEMII NAUK
INSTYTUT PODSTAWOWYCH PROBLEMÓW TECHNIKI PAN
INSTYTUT SLAWISTYKI PAN
SIEĆ BADAWCZA ŁUKASIEWICZ - INSTYTUT TECHNOLOGII MATERIAŁÓW ELEKTRONICZNYCH
MUZEUM I INSTYTUT ZOOLOGII POLSKIEJ AKADEMII NAUK
INSTYTUT BADAŃ SYSTEMOWYCH PAN
INSTYTUT BOTANIKI IM. WŁADYSŁAWA SZAFERA POLSKIEJ AKADEMII NAUK
Search field
How to search...
Advanced search
MAIN PAGE
|
Indexes
Index:
Title
Results:
1316
Title
Choose first letter
all
A
B
C
D
E
F
G
H
I
J
K
L
M
N
O
P
R
S
T
U
V
W
X
Z
Search in field Title
of
66
Next
15R-SiC w kryształach 4H- i 6H-SiC otrzymywanych metodą transportu fizycznego z fazy gazowej = 15R-SiC inclusions in 4H-and 6H-SiC crystals grown by the physical vapour transport method
A constribution to the sonsideration of the synthesis of compounds by the reaction sintering of Oxide powders = Niektóre aspekty reakcji składników w procesie spiekania sproszkowanych tlenków
A helical-coil resonator magnetically coupled with microstrip transmission line for EPR spectroscopy = Rezonator helikalny sprzężony magnetycznie z linią mikropaskową do zastosowań w spektroskopii EPR
A method for correction of elastic and piezoelectric constants of crystals using measured surface acoustic wave parameters = Metoda korekcji stałych elastycznych i piezoelektrycznych kryształów z wykorzystaniem zmierzonych parametrów akustycznych fal powierzchniowych
Acoustic plate modes in GaN crystal plates cut perpendicularly to crystallographic Z axis
Active fluoride glasses
Akustyczne mody płytowe w płytkach z kryształu GaN wyciętych prostopadle do osi krystalograficznej Z
Al2O3-ZrO composite reinforced with graphene plateles
Alumina-FeNi42 foil and AgCuTiIn alloy joints and their high thermal shock resistance = Odporność na wstrząsy cieplne złącza ceramika-metal alundowa - FeNi42 oraz wtopu AgCuTiIn
Amorficzny krzem w mikroelektronice = Amorphous silicon in microelectronics
Amorphous chalcogenide semiconductors for solid state dosimetric systems of high-energetic ionizing radiation = Chalkogenkowe półprzewodniki amorficzne do systemów dozymetrycznych wysokoenergetycznego promieniowania jonizującego na podstawie ciał stałych
Analiza błędu wartości parametrów centrów defektowych wyznaczanych metodą niestacjonarnej spektroskopii fotoprądowej PITS = Error analysis of the parameters of the defect centres determined by the photoinduced transient spectroscopy PITS
Analiza defektów występujących w strukturze krzemu na podstawie obserwacji taśm krzemowych otrzymanych metodą EPG. Cz. II = An analysis of the defects occuring in silicon structure on the base of EPG silicon ribbon observation. Part II
Analiza defektów występujących w strukturze krzemu na podstawie obserwacji taśm krzemowych otrzymywanych metodą EFG. Part 1. = Analysis of the defects occuring in the silicon structure on the base of EPG silicon ribbon observation. Part 1
Analiza i optymalizacja mikrofalowych wzmacniaczy kwantowych = Analysis and optimization of microwave quantum amplifiers
Analiza metod badawczych materiałów proszkowanych stosowanych w technice elektronowej = Analysis of experimental method characterizing powder materials used in electronic technology
Analiza metod badawczych materiałów proszkowanych stosowanych w technice elektronowej = The measurements of surface acoustic wave properties in LiNbO3
Analiza możliwości wykorzystania szkieł wieloskładnikowych do wytwarzania światłowodów do przesyłania promieniowania z zakresu średniej podczerwieni = The possibility of application of multicomponent glasses for MID infrared (2-3,5 micrometer) waveguide manufacturing
Analiza możliwości zastosowania wysokorozdzielczej dyfraktomaterii rentgenowskiej do badań parametrów strukturalnych warstw epitaksjalnych i supersieci = The possibility of application of high resolution x-ray diffraction for determination the structural parameters of epilayers and superlattices
Analiza platyny i rodu za pomocą spektrometru masowego = Analysis of platinum and rhodium using a mass spectrometer
1
2
of
66
Next
This page uses 'cookies'.
More information
I understand