@misc{Sokołowska_Wanda_Opracowanie_1992,
 author={Sokołowska Wanda},
 volume={20},
 editor={Waśkiewicz Lidia},
 number={4},
 copyright={Rights Reserved - Free Access},
 address={Warszawa},
 journal={Electronic Materials},
 howpublished={online},
 year={1992},
 publisher={ITME},
 language={pol},
 type={Text},
 title={Opracowanie wzorców używanych przy określeniu czystości materiałów elektronicznych metodami spektroskopowymi = Synthetic standards for trace analysis of electronic materials by atomic spectrometry techniques},
 URL={http://rcin.org.pl/Content/11885/PDF/WA901_14230_M1_r1992-t20-z4_Mater-Elektroniczne_Sokolowska_i.pdf},
 keywords={Electronic - materials, standard for trace analisis, atomic spectrometry technique},
}