@misc{Wójcik_Marek_Badanie_2011,
 author={Wójcik Marek},
 volume={39},
 number={4},
 copyright={Rights Reserved - Free Access},
 address={Warszawa},
 journal={Electronic Materials},
 howpublished={online},
 year={2011},
 publisher={ITME},
 language={pol},
 type={Text},
 title={Badanie odkształceń sieci krystalicznej w implantowanej warstwie epitaksjalnej GaN osadzonej metodą MOCVD na podłożu szafirowym o orientacji [001] = Lattice strain study in implanted GaN epitaxial layer deposited by means of MOCVD technique on [001] oriented sapphire substrate},
 URL={http://rcin.org.pl/Content/27757/PDF/WA901_17062_M1_r2011-t39-z4_Mater-Elektron-Woj_i.pdf},
 keywords={Electronic - journal - materials, Electronic - materials, HRXRD, ion implantation, diffraction},
}