@misc{Sass_Jerzy_Rentgenodyfrakcyjna_2000,
 author={Sass Jerzy},
 number={54},
 copyright={Rights Reserved - Free Access},
 address={Warszawa},
 journal={Proceedings of ITME},
 howpublished={online},
 year={2000},
 publisher={ITME},
 language={pol},
 type={Text},
 title={Rentgenodyfrakcyjna analiza odkształceń koherentnych w półprzewodnikowych strukturach warstwach AIIIBV = X-Ray difraction analysis of the coherency strain in semiconductor AIIIBV layer structures},
 URL={http://rcin.org.pl/Content/36026/PDF/WA901_18823_r2000-z54_Prace-ITME-Sass_i.pdf},
 keywords={Electronic - journal - material, Electronic materials},
}