@misc{Prociow_Eugeniusz_L._Evaluation_2008,
 author={Prociow Eugeniusz L.},
 volume={36},
 number={4},
 copyright={Rights Reserved - Free Access},
 address={Warszawa},
 journal={Electronic Materials},
 howpublished={online},
 year={2008},
 publisher={ITME},
 language={eng},
 type={Text},
 title={Evaluation of electrical properties of Eu and Pd-doped titanium dioxide thin films deposited on silicon = Badanie właściwości elektrycznych cienkich warstw TiO2 domieszkowanych Eu i Pd naniesionych na podłoża krzemowe},
 URL={http://rcin.org.pl/Content/7584/PDF/WA901_16198_M1-r2008-t36-z4_Mater-Elektroniczne_Prociow_i.pdf},
 keywords={Electronic - journal - materials, Electronic - materials, electrical properties, TiO2:(Eu, Pd), heterojunction},
}