@misc{Mróz_Stefan_Wykorzystanie_1987,
 author={Mróz Stefan},
 volume={57},
 editor={Chrzanowski Edward},
 editor={Mroz Alicja},
 editor={Kozioł Czesław},
 number={1},
 copyright={Rights Reserved - Free Access},
 journal={Electronic Materials},
 address={Warszawa},
 howpublished={online},
 year={1987},
 publisher={Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"},
 language={pol},
 title={Wykorzystanie wtórnej emisji elektronów, spektroskopii elektronów Augera i dyfrakcji powolnych elektronów do badania składu chemicznego i doskonałości powierzchni monokryształów = Application of secondary electron emission, Auger electron spectroscopy and low-energy electron diffraction in the investigation of perfection of a silicon crystal surface},
 type={Text},
 URL={http://rcin.org.pl/Content/9613/PDF/WA901_12499_M1_r1987-z1-57_Mater-Elektroniczne_Mroz_i.pdf},
 keywords={Electronic - journal - material, Electronic materials, crystal surface, Auger electron spectroscopy},
}