@misc{Wierzchowski_Wojciech_Rentgenograficzne_1988,
 author={Wierzchowski Wojciech},
 volume={63},
 editor={Mazur Krystyna},
 number={3},
 copyright={Rights Reserved - Free Access},
 address={Warszawa},
 journal={Electronic Materials},
 howpublished={online},
 year={1988},
 publisher={Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"},
 language={pol},
 type={Text},
 title={Rentgenograficzne badania półizolacyjnych monokryształów GaAs = X-ray investigation of semi-insulating GaAs single crystals},
 URL={http://rcin.org.pl/Content/9954/PDF/WA901_12697_M1_r1988-z3-63_Mater-Elektroniczne_Wierzchowski_i.pdf},
 keywords={Electronic - journal - material, Electronic materials, SI GaAs, XRD, x-ray topography},
}