TY - GEN N1 - 19-33 s. : il. ; 24 cm. N1 - Bibliogr. s. 32-33 L1 - http://rcin.org.pl/Content/14749/PDF/WA901_14642_M1_r1995-t23-z1_Mater-Elektroniczne_Pawlowska_i.pdf M3 - Text J2 - Materiały Elektroniczne 1995T.23 nr 1 PY - 1995 IS - 1 EP - 33 KW - Electronic - materials KW - Electronic - journal - materials KW - metallic contamination KW - EBIC KW - silicon epitaxial layer A1 - Pawłowska Marta PB - ITME VL - 23 CY - Warszawa SP - 19 T1 - Wpływ zanieczyszczeń metalicznych na profil sygnału EBIC w krzemowych strukturach epitaksjalnych = Influence of metalic contaminations on EBIC signal profiles in silicon epilayers UR - http://rcin.org.pl/dlibra/publication/edition/14749 ER -