Zastosowanie metody betaskopowej do wyznaczania grubości warstw metalizacyjnych na podłożu ceramicznym = The application of radioactive method to thickness measurement of metalizing films on ceramic substrates - Digital Repository of Scientific Institutes

Skip to main menu
Skip to search engine
Skip to content
Skip to footer

Zastosowanie metody betaskopowej do wyznaczania grubości warstw metalizacyjnych na podłożu ceramicznym = The application of radioactive method to thickness measurement of metalizing films on ceramic substrates

Download

Title: Zastosowanie metody betaskopowej do wyznaczania grubości warstw metalizacyjnych na podłożu ceramicznym = The application of radioactive method to thickness measurement of metalizing films on ceramic substrates

Creator:

Pierzchała-Chylińska, Maria

Date issued/created:

Resource type:

Subtitle:

Materiały Elektroniczne 1975 nr 2(10)

Publisher:

Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"

Place of publishing:

Description:

s. 28-35 : il. ; 24 cm. ; Bibliogr. s. 35

Relation:

Electronic Materials

Volume:

Issue:

Start page:

End page:

Detailed Resource Type:

Format:

application/pdf

Resource Identifier:

oai:rcin.org.pl:19806

Source:

ITME, sygn. dostępny ; click here to follow the link

Language:

Rights:

Rights Reserved - Free Access

Terms of use:

Copyright-protected material. May be used within the limits of statutory user freedoms

Digitizing institution:

Institute of Electronic Materials Technology

Original in:

Library of the Electronic Materials Technology Institute

Projects co-financed by:

Programme Innovative Economy, 2010-2014, Priority Axis 2. R&D infrastructure ; European Union. European Regional Development Fund

Access:

Subject and keywords:

Electronic - materials Electronic - journal - materials metalizing film thickness radioactive method

Object collections:

Last modified:

Oct 2, 2020

In our library since:

Feb 11, 2013

Number of object content downloads / hits:

419

All available object's versions:

https://rcin.org.pl/publication/10759

Show description in RDF format:

Show description in RDFa format:

Show description in OAI-PMH format:

MATERIAŁY ELEKTRONICZNE

Edition name	Date
Pierzchała-Chylińska Maria, Zastosowanie metody betaskopowej do wyznaczania grubości warstw metalizacyjnych na podłożu ceramicznym	Oct 2, 2020

Objects Similar

Krzemowe warstwy epitaksjalne o grubości powyżej 20 um = Silicon epitaxial layers of thickness above 20 um

Nossarzewska-Orłowska Elżbieta

1976

Text

Penetracja wzajemna w układach warstwowych nikiel-srebro i nikiel-miedź-srebro = Investigation of layered Ni-Ag and Ni-Cu-Ag films

Wehr Anna

1993

Text

Badania nad optymalizacją procesów technologicznych = Investigation of technologic processes optimization

Przyłuski Jan

1980

Text

method of calculation of the thickness of light-sensitive emulsion layern deposited on the plate by dip-coating technique

Cendorwski Sławomir

1981

Text

Opracowanie metody ujawniania położenia złącza LH typu n+n oraz p+p w strukturach epitaksjalnych z SiC metoda chemicznego barwienia = Identification of position of the n+n and p+p LH junctions in epitaxial SiC layers by chemical decoration

Przyborowska Krystyna

2011

Text

Wpływ niektórych czynników technologicznych na przyczepność warstw metalicznych = The influence of some technological factors on the adhesion of metallic layers

Boniecki Marek

1978

Text

Spis treści. Vol. 45 No. 2-4 [2017]

Materiały Elektroniczne

2017

Book/Chapter

Electronic Materials

2020

Book/Chapter

More

Citation style:

iso690-author-date apa modern-language-association chicago-author-date

This page uses 'cookies'. More information