Object

Title: Wykorzystanie wtórnej emisji elektronów, spektroskopii elektronów Augera i dyfrakcji powolnych elektronów do badania składu chemicznego i doskonałości powierzchni monokryształów = Application of secondary electron emission, Auger electron spectroscopy and low-energy electron diffraction in the investigation of perfection of a silicon crystal surface

Object collections:

Last modified:

Oct 2, 2020

In our library since:

Aug 7, 2012

Number of object content hits:

690

All available object's versions:

https://rcin.org.pl/publication/12499

Show description in RDF format:

RDF

Show description in OAI-PMH format:

OAI-PMH

×

Citation

Citation style:

This page uses 'cookies'. More information