Opracowanie wzorców używanych przy określeniu czystości materiałów elektronicznych metodami spektroskopowymi = Synthetic standards for trace analysis of electronic materials by atomic spectrometry techniques - Digital Repository of Scientific Institutes

Skip to main menu
Skip to search engine
Skip to content
Skip to footer

Opracowanie wzorców używanych przy określeniu czystości materiałów elektronicznych metodami spektroskopowymi = Synthetic standards for trace analysis of electronic materials by atomic spectrometry techniques

Download

Title: Opracowanie wzorców używanych przy określeniu czystości materiałów elektronicznych metodami spektroskopowymi = Synthetic standards for trace analysis of electronic materials by atomic spectrometry techniques

Creator:

Sokołowska Wanda

Date issued/created:

Resource type:

Subtitle:

Materiały Elektroniczne 1992 T.20 nr 4

Contributor:

Waśkiewicz Lidia

Publisher:

Place of publishing:

Description:

58-72 s. : il. ; 24 cm. ; Bibliogr. s. 72

Relation:

Electronic Materials

Volume:

Issue:

Start page:

End page:

Detailed Resource Type:

Format:

application/pdf

Resource Identifier:

oai:rcin.org.pl:11885

Source:

ITME, sygn. dostępny ; click here to follow the link

Language:

Rights:

Rights Reserved - Free Access

Terms of use:

Copyright-protected material. May be used within the limits of statutory user freedoms

Digitizing institution:

Institute of Electronic Materials Technology

Original in:

Library of the Electronic Materials Technology Institute

Projects co-financed by:

Programme Innovative Economy, 2010-2014, Priority Axis 2. R&D infrastructure ; European Union. European Regional Development Fund

Access:

Subject and keywords:

Electronic - materials standard for trace analisis atomic spectrometry technique

Object collections:

Last modified:

Oct 2, 2020

In our library since:

Aug 29, 2012

Number of object content downloads / hits:

1010

All available object's versions:

https://rcin.org.pl/publication/14230

Show description in RDF format:

Show description in RDFa format:

Show description in OAI-PMH format:

MATERIAŁY ELEKTRONICZNE

Edition name	Date
Sokołowska Wanda, Opracowanie wzorców używanych przy określeniu czystości materiałów elektronicznych metodami spektroskopowymi	Oct 2, 2020

Objects Similar

Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych (ITME) - wczoraj i dziś. Laboratorium Charakteryzacji Materiałów Wysokiej Czystości =

Sokołowska Wanda

2010

Text

Badania nad podwyższeniem wykrywalności pierwiastków w spektralnej analizie emisyjnej = Detectibility improvement in element emission spectral analysis

Sokołowska Wanda

1984

Text

Spektrograficzna metoda oznaczania zanieczyszczeń metalicznych w tellurze o wysokiej czystości = Spectrographic determination of metallic contaminations in high purity tellurium

Sokołowska Wanda

1974

Text

Diody LED - odpady niebezpieczne dla środowiska = LED DIODES - environmentally hazardous waste

Sokołowska Wanda

2011

Text

Zastosowanie statystycznych metod planowania doświadczeń ekstremalnych w spektralnej analizie emisyjnej = Application of statistical methods design of experiments in emission spectroscopy

Sokołowska Wanda

1978

Text

Spektrograficzna metoda oznaczania zanieczyszczeń metalicznych w niobianie litu = Spectrographic method for the determination of metallic impurities in the lithium carbonate and lithium chloride

Sokołowska Wanda

1982

Text

Spektrograficzna analiza tlenku glinu do produkcji ceramiki wysokoalundowej = Spectrographic analysis of aluminum oxide for production of high alumina content ceramics

Sokołowska Wanda

1974

Text

Oznaczanie sodu i potasu w tlenkowych związkach rutenu metodą płomieniowej emisyjnej spektrom etrii atomowej = Determination of Na and K in ruthenium oxide compopunds by flame atomic emission spectrometry

Chruścińska Teresa Joanna

1981

Text

More

Citation style:

iso690-author-date apa modern-language-association chicago-author-date

This page uses 'cookies'. More information