RCIN and OZwRCIN projects

Object

Title: Pomiar koncentracji nosników ładunku w płytkach monokryształów objętościowych i warstwach epitaksjalnych SiC za pomocą sondy rtęciowej = Measurement of charge carrier concentration in SiC wafers of bulk crystals and epitaxial layers using mercury probe

Object collections:

Last modified:

Oct 2, 2020

In our library since:

Jun 29, 2012

Number of object content downloads / hits:

985

All available object's versions:

https://rcin.org.pl/publication/15968

Show description in RDF format:

RDF

Show description in RDFa format:

RDFa

Show description in OAI-PMH format:

OAI-PMH

×

Citation

Citation style:

This page uses 'cookies'. More information