- O repozytorium
- Kolekcje
- Indeksy
- Historia przeglądania
-
Repozytoria RCIN
-
INSTYTUT ARCHEOLOGII I ETNOLOGII POLSKIEJ AKADEMII NAUK
-
INSTYTUT BADAŃ LITERACKICH POLSKIEJ AKADEMII NAUK
-
INSTYTUT BADAWCZY LEŚNICTWA
-
INSTYTUT BIOLOGII DOŚWIADCZALNEJ IM. MARCELEGO NENCKIEGO POLSKIEJ AKADEMII NAUK
-
INSTYTUT BIOLOGII SSAKÓW POLSKIEJ AKADEMII NAUK
-
INSTYTUT CHEMII FIZYCZNEJ PAN
-
INSTYTUT CHEMII ORGANICZNEJ PAN
-
INSTYTUT FILOZOFII I SOCJOLOGII PAN
-
INSTYTUT GEOGRAFII I PRZESTRZENNEGO ZAGOSPODAROWANIA PAN
-
INSTYTUT HISTORII im. TADEUSZA MANTEUFFLA POLSKIEJ AKADEMII NAUK
-
INSTYTUT JĘZYKA POLSKIEGO POLSKIEJ AKADEMII NAUK
-
INSTYTUT MATEMATYCZNY PAN
-
INSTYTUT MEDYCYNY DOŚWIADCZALNEJ I KLINICZNEJ IM.MIROSŁAWA MOSSAKOWSKIEGO POLSKIEJ AKADEMII NAUK
-
INSTYTUT PODSTAWOWYCH PROBLEMÓW TECHNIKI PAN
-
INSTYTUT SLAWISTYKI PAN
-
SIEĆ BADAWCZA ŁUKASIEWICZ - INSTYTUT TECHNOLOGII MATERIAŁÓW ELEKTRONICZNYCH
-
MUZEUM I INSTYTUT ZOOLOGII POLSKIEJ AKADEMII NAUK
-
INSTYTUT BADAŃ SYSTEMOWYCH PAN
-
INSTYTUT BOTANIKI IM. WŁADYSŁAWA SZAFERA POLSKIEJ AKADEMII NAUK
-
Obiekt
Tytuł: Kompatybilność materiałów w bezołowiowym systemie rezystywnym
Inny tytuł:
Materiały Elektroniczne 2008 T.36 nr 3
Wydawca:
Miejsce wydania:
Opis:
39-46 s. : il. 24 cm. ; Bibliogr. s. 45-46
Czasopismo/Seria/cykl:
Tom:
Zeszyt:
Strona pocz.:
Strona końc.:
Szczegółowy typ zasobu:
Format:
Identyfikator zasobu:
Źródło:
ITME, sygn. dostępny ; kliknij tutaj, żeby przejść
Język:
Prawa:
Prawa zastrzeżone - dostęp nieograniczony
Zasady wykorzystania:
Digitalizacja:
Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych
Lokalizacja oryginału:
Biblioteka Instytutu Technologii Materiałów Elektronicznych
Dofinansowane ze środków:
Program Operacyjny Innowacyjna Gospodarka, lata 2010-2014, Priorytet 2. Infrastruktura strefy B + R ; Unia Europejska. Europejski Fundusz Rozwoju Regionalnego
Dostęp:
Kolekcje, do których przypisany jest obiekt:
- Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych > Kolekcje Partnerów > Sieć Badawcza Łukasiewicz – Instytut Mikroelektroniki i Fotoniki > Materiały Elektroniczne
- Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych > Piśmiennictwo > Książki/Rozdziały
Data ostatniej modyfikacji:
2020-10-02
Data dodania obiektu:
2012-06-29
Liczba wyświetleń treści obiektu:
689
Wszystkie dostępne wersje tego obiektu:
https://rcin.org.pl/publication/16001
Wyświetl opis w formacie RDF:
Wyświetl opis w formacie OAI-PMH:
-
MATERIAŁY ELEKTRONICZNE
-
Materiały Elektroniczne 1973
-
Materiały Elektroniczne 1974
-
Materiały Elektroniczne 1975
-
Materiały Elektroniczne 1976
-
Materiały Elektroniczne 1977
-
Materiały Elektroniczne 1978
-
Materiały Elektroniczne 1979
-
Materiały Elektroniczne 1980
-
Materiały Elektroniczne 1981
-
Materiały Elektroniczne 1982
-
Materiały Elektroniczne 1983
-
Materiały Elektroniczne 1984
-
Materiały Elektroniczne 1985
-
Materiały Elektroniczne 1986
-
Materiały Elektroniczne 1987
-
Materiały Elektroniczne 1988
-
Materiały Elektroniczne 1989
-
Materiały Elektroniczne 1990
-
Materiały Elektroniczne 1991
-
Materiały Elektroniczne 1992
-
Materiały Elektroniczne 1993
-
Materiały Elektroniczne 1994
-
Materiały Elektroniczne 1995
-
Materiały Elektroniczne 1996
-
Materiały Elektroniczne 1997
-
Materiały Elektroniczne 1998
-
Materiały Elektroniczne 1999
-
Materiały Elektroniczne 2000
-
Materiały Elektroniczne 2001
-
Materiały Elektroniczne 2002
-
Materiały Elektroniczne 2003
-
Materiały Elektroniczne 2004
-
Materiały Elektroniczne 2005
-
Materiały Elektroniczne 2006
-
Materiały Elektroniczne 2007
-
Materiały Elektroniczne 2008
-
Materiały Elektroniczne 2008 T.36 nr 1
-
Materiały Elektroniczne 2008 T.36 nr 2
-
Materiały Elektroniczne 2008 T.36 nr 3
- Spis treści 2008 T.36 nr 3
- Mazur Krystyna, Pomiar długozasięgowego odchylenia od płaskości powierzchni płytek Si za pomocą HR XRR
- Kujawa Ireneusz, Wytworzenie i charakteryzacja całoszklanego włókna z przerwa fotoniczną
- Kiełbasiński Konrad, Kompatybilność materiałów w bezołowiowym systemie rezystywnym
- Wiliński Zbigniew, Elektrochemiczne osadzanie gradientowych powłok stopowych Ni-P
- Pawłowska Joanna, Zastosowanie selektywnego trawienia chemicznego do określenia położenia ścięć bazowych na monokrystalicznych płytkach o orientacji (100) wiązków półprzewodnikowych typu AIIIBV Joanna Pawłowska, Anna Bańkowska.
- Brzozowski Andrzej, Pomiar koncentracji nosników ładunku w płytkach monokryształów objętościowych i warstwach epitaksjalnych SiC za pomocą sondy rtęciowej
- Jakubowska Małgorzata, Resistive pressure sensors fabricated from polymer thick composites containing carbon nanotubes
- Witek Krzysztof, Technological aspects of automated selective systems application in conformal coating processing
- Firek Piotr, Electronic properties of thin niobium doped barium titanate films
- Kaczmarek Danuta, Study of structural and optical properties of TiO2:(Eu, Pd) thin films deposited by magnetron sputtering
- Swatowska Barbara, The main properties of amorphous antireflective coating for silicon solar cells
- Stoch Agata, Dielectric properties of perovskite multiferroic Pb(Fe0.5Nb0.5)O3,-Bi0.95Dy0.05FeO thick films
- Rosiński Witold, Prof. Witold Rosiński - nestor polskiej elektroniki sam o sobie
-
Materiały Elektroniczne 2008 T.36 nr 4
-
Materiały Elektroniczne 2008 T.36 nr 1
-
Materiały Elektroniczne 2009
-
Materiały Elektroniczne 2010
-
Materiały Elektroniczne 2011
-
Materiały Elektroniczne 2012
-
Materiały Elektroniczne 2013
-
Materiały Elektroniczne 2014
-
Materiały Elektroniczne 2015
-
Materiały Elektroniczne 2016
-
Materiały Elektroniczne 2017
-
Materiały Elektroniczne 2018
-
Materiały Elektroniczne 2019
-
Materiały Elektroniczne 2020
-
Materiały Elektroniczne 1973
| Nazwa wydania | Data |
|---|---|
| Kiełbasiński Konrad, Kompatybilność materiałów w bezołowiowym systemie rezystywnym | 2020-10-02 |
Obiekty
Podobne
Kiełbasiński Konrad
Gąsiorowski Zdzisław
Chylińska Maria
Cybulski Piotr
Brzozowski Andrzej
Nossarzewska-Orłowska Elżbieta
Tomaszewski Jacek
