56 s. : il. 24 cm. ; Bibliogr. s. 52-55
ITME, sygn. dostępny ; kliknij tutaj, żeby przejść
Prawa zastrzeżone - dostęp nieograniczony
Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych
Biblioteka Instytutu Technologii Materiałów Elektronicznych
Program Operacyjny Innowacyjna Gospodarka, lata 2010-2014, Priorytet 2. Infrastruktura strefy B + R ; Unia Europejska. Europejski Fundusz Rozwoju Regionalnego
2 paź 2020
26 cze 2013
494
https://rcin.org.pl/publication/17734
Nazwa wydania | Data |
---|---|
Sikorski Krzysztof, Mikroanaliza rentgenowska cienkich warstw | 2 paź 2020 |
Sikorski Krzysztof
Jakubowska Małgorzata
Kaczyński Łukasz
Stróż Kazimierz
Paduch Józef
Sarnecki Jerzy