Metadata language
Fotometryczna metoda pomiaru naprężeń w materiałach półprzewodnikowych
Subtitle: Creator: Contributor: Publisher: Place of publishing: Date issued/created: Description:31, [2] s. : il. 24 cm. ; Bibliogr. s. [32]
Subject and Keywords:Elektronika - czasopismo - materiały ; Materiały elektroniczne ; naprężenie ; materiał półprzewodnikowy ; metoda fotometryczna
Relation: Issue: Start page: End page: Resource type: Detailed Resource Type: Format: Source:ITME, sygn. dostępny ; click here to follow the link
Language: Rights:Prawa zastrzeżone - dostęp nieograniczony
Terms of use: Digitizing institution:Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych
Original in:Biblioteka Instytutu Technologii Materiałów Elektronicznych
Projects co-financed by:Program Operacyjny Innowacyjna Gospodarka, lata 2010-2014, Priorytet 2. Infrastruktura strefy B + R ; Unia Europejska. Europejski Fundusz Rozwoju Regionalnego
Access: