- O repozytorium
- Kolekcje
- Indeksy
- Historia przeglądania
-
Repozytoria RCIN
-
INSTYTUT ARCHEOLOGII I ETNOLOGII POLSKIEJ AKADEMII NAUK
-
INSTYTUT BADAŃ LITERACKICH POLSKIEJ AKADEMII NAUK
-
INSTYTUT BADAWCZY LEŚNICTWA
-
INSTYTUT BIOLOGII DOŚWIADCZALNEJ IM. MARCELEGO NENCKIEGO POLSKIEJ AKADEMII NAUK
-
INSTYTUT BIOLOGII SSAKÓW POLSKIEJ AKADEMII NAUK
-
INSTYTUT CHEMII FIZYCZNEJ PAN
-
INSTYTUT CHEMII ORGANICZNEJ PAN
-
INSTYTUT FILOZOFII I SOCJOLOGII PAN
-
INSTYTUT GEOGRAFII I PRZESTRZENNEGO ZAGOSPODAROWANIA PAN
-
INSTYTUT HISTORII im. TADEUSZA MANTEUFFLA POLSKIEJ AKADEMII NAUK
-
INSTYTUT JĘZYKA POLSKIEGO POLSKIEJ AKADEMII NAUK
-
INSTYTUT MATEMATYCZNY PAN
-
INSTYTUT MEDYCYNY DOŚWIADCZALNEJ I KLINICZNEJ IM.MIROSŁAWA MOSSAKOWSKIEGO POLSKIEJ AKADEMII NAUK
-
INSTYTUT PODSTAWOWYCH PROBLEMÓW TECHNIKI PAN
-
INSTYTUT SLAWISTYKI PAN
-
SIEĆ BADAWCZA ŁUKASIEWICZ - INSTYTUT TECHNOLOGII MATERIAŁÓW ELEKTRONICZNYCH
-
MUZEUM I INSTYTUT ZOOLOGII POLSKIEJ AKADEMII NAUK
-
INSTYTUT BADAŃ SYSTEMOWYCH PAN
-
INSTYTUT BOTANIKI IM. WŁADYSŁAWA SZAFERA POLSKIEJ AKADEMII NAUK
-
Obiekt
Tytuł: Analiza wolframu i tantalu za pomocą spektrografu masowego ze wzbudzeniem iskrowym
Inny tytuł:
Współtwórca:
Dębska Wiesława ; Musijowska Wanda ; Vieth Wojciech
Wydawca:
Miejsce wydania:
Opis:
72 s. : il. 24 cm. ; Bibliogr. s. [70] ; Od rok 1979 z. 1 zmiana tytułu wydawnictwa na "Prace ITME"
Czasopismo/Seria/cykl:
Zeszyt:
Strona pocz.:
Strona końc.:
Szczegółowy typ zasobu:
Format:
Identyfikator zasobu:
Źródło:
ITME, sygn. dostępny ; kliknij tutaj, żeby przejść
Język:
Prawa:
Prawa zastrzeżone - dostęp nieograniczony
Zasady wykorzystania:
Digitalizacja:
Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych
Lokalizacja oryginału:
Biblioteka Instytutu Technologii Materiałów Elektronicznych
Dofinansowane ze środków:
Program Operacyjny Innowacyjna Gospodarka, lata 2010-2014, Priorytet 2. Infrastruktura strefy B + R ; Unia Europejska. Europejski Fundusz Rozwoju Regionalnego
Dostęp:
Kolekcje, do których przypisany jest obiekt:
- Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych > Kolekcje Partnerów > Sieć Badawcza Łukasiewicz – Instytut Mikroelektroniki i Fotoniki > Prace ITME
- Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych > Piśmiennictwo > Książki/Rozdziały
Data ostatniej modyfikacji:
2020-10-02
Data dodania obiektu:
2013-06-21
Liczba wyświetleń treści obiektu:
202
Wszystkie dostępne wersje tego obiektu:
https://rcin.org.pl/publication/18692
Wyświetl opis w formacie RDF:
Wyświetl opis w formacie OAI-PMH:
-
PRACE ITME
-
PRACE ONPMP
-
PRACE ITME
- Tomasik Edmund, Wpływ dodatku fosforu na niektóre własności fizykochemiczne i lutowwnicze eutektycznego stopu SnPb
- Sikorski Krzysztof, Mikroanaliza rentgenowska cienkich warstw
- Hozer Leszek, Tworzywo warystorowe na bazie ZnO - badania mikrostruktury i własnościu elektrycznych
- Senkara Jacek, Wpływ antymonu na zjawiska powierzchniowe w procesie wytwarzania kompozytu W-CuSb
- Wierzchowski Wojciech, Odwzorowywanie dyslokacji w krzemowych warstwach epitaksjalnych metodami odbiciowymi rentgenowskiej topografii dyfrakcyjnej
- Badzian Andrzej, Syntezy wysokociśnieniowe kryształów o strukturze typu diamentu i ich struiktura atomowa w świetle badań rentgenowskich
- Naumowicz Piotr, Defekty wzrostowe w kryształach granatu gadolinowo-galowego
- Boniecki Marek, Analiza własności mechanicznych materiałów ceramicznych metodami mechaniki pękania
- Korec Jacek, Modelowanie procesu epitaksji z fazy gazowej
- Bajor Andrzej, Fotometryczna metoda pomiaru naprężeń w materiałach półprzewodnikowych
- Taczanowski Andrzej, Helowe wykrywacze nieszczelności. Budowa i zastosowanie
- Adamkiewicz Grażyna, Badanie naprężeń w krzemie otrzymanym metodą Czochralskiego
- Pawłowska Marta, Badanie aktywności elektrycznej defektów strukturalnych w monokryształach półprzewodnikowych
- Abgarowicz Ewa, Diament syntetyczny. Cz. I. Wybrane zagadnienia syntezy diamentu
- Abgarowicz Ewa, Diament syntetyczny. Cz. II. Metody badania własności i zastosowania
- Stróż Kazimierz, Precyzja wyników mikroanalizy rentgenowskiej i metody jej podwyższenia
- Kłokocki Andrzej, Zastosowanie spektrometru z rozbieżną wiązką promieniowania w badaniach widm rentgenowskich
- Hozer Leszek, Interpretacja procesu degradacji parametrów elektrycznych tworzywa warystorowego na bazie ZnO w warunkach pracy
- Bajor Andrzej, Zastosowanie metody Muellera do analizy zjawiska dwójłomności wymuszonej mechanicznie w materiałach półprzewodnikowych
- Pietrzak Katarzyna, Spajalność ceramiki tlenkowej typu Al2O3 z miedzią w zależności od stosowanych technik
- Strupiński Włodzimierz, Wytwarzanie cienkich warstw fosforku galu metodą epitaksji z fazy gazowej
- Niedbalska Alicja, Wpływ prekursora organicznego na obniżenie ciśnień zarodkowania i wzrostu kryształów diamentu
- Gąsiorowski Zdzisław, Wytwarzanie rutenianów bizmutu i ołowiu - materiałów elektronicznych
- Pawłowska Marta, Badanie doskonałości struktury monokryształów GaAs o obniżonej gęstości dyslokacji
- Gładki Andrzej, Nieokreśloność w niektórych metodach ilościowej analizy metalorganicznej
- Dulska-Wehr Anna, Analiza termodynamiczna utleniania metalui trudnotopliwych i reducji ich tlenków
- Bugajski Maciej, Nowe technologie wytwarzania złożonych struktur półprzewodnikowych
- Jakubowska Małgorzata, Fizykochemia spiekania przewodzącej warstwy miedziowej
- Boniecki Marek, Rola mikrostruktury i wewnętrznych naprężeń cieplnych w zwiększeniu odporności na pękanie ceramiki na bazie Al2O3
- Kamiński Paweł, Zastosowanie niestacjonarnej spektroskopii głębokich poziomów do badania struktury defektowej półprzewodników typu AIIIBV
- Paduch Józef, Podstawy ilościowej mikroanalizy rentgenowskiej w analitycznej mikroskopii elektronowej
- Grześ Jarosław, Właściwości użytkowe i mikrostruktura wybranych powłok stopowych Ni-W-Co uzyskanych w procesie nakładania tamponowego
- Kociszewski Longin, Basic properties and applications of advanced glass optical fibers
- Petrovskij Vitalij Ja., Ceramika z azotku krzemu
- Berkowski Marek, Wzrost monokryształów wieloskładnikowych związków tlenkowych metodą Chochralskiego
- Wierzchowski Wojciech, Badania realnej struktury monokryształów i warstw epitaksjalnych z zastosowaniem promieniowania synchrotronowego i symulacji obrazów dyfrakcyjnych
- Bukowski Jacek, Analiza wolframu i tantalu za pomocą spektrografu masowego ze wzbudzeniem iskrowym
- Cendrowski Sławomir, Metody pomiaru elektryzacji statycznej folii z tworzyw sztucznych
- Szymański Dariusz, Metody pomiaru parametrów aplikacyjnych past i warstw grubych. Cz. I
- Szymański Dariusz, Metody pomiaru parametrów aplikacyjnych past i warstw grubych. Cz. II
- Wehr Anna, Wpływ miedzi na złącza międzyfazowe srebro-nikiel
- Bajor Andrzej L., Some problems of optical inhomogeneity testing in crystalline materials by imaging polarimetry
- Inżynieria Materiałów Elektronicznych. II Seminarium zorganizowane pod patronatem KBN, 16 grudnia 1997 r.
- Palczewska Maria, Charakteryzacja defektów paramagnetycznych w związkach półprzewodnikowych typu AIIIBV metodą ESR
- Gawlik Grzegorz, Wpływ warunków implantacji i obróbki cieplnej na strukturę stopów żelaza
- Gałązka Zbigniew, Teoretyczna i doświadczalna analiza naprężeń cieplnych i resztkowych w wybranych kryształach tlenkowych
- Grabias Agnieszka, Struktura i własności magnetyczne amorficznych i nanokrystalicznych stopów FeZrB(Cu)
- Kaliński Dariusz, Opracowanie spoiwa kompozytowego do spajania ceramiki korundowej z metalami
- Nowe Materiały, Technologie, Mikrosystemy, a 5.Ramowy Program Badań, Rozwoju Technicznego i Prezentacji Unii Europejskiej (1998-2002), 8-10 grudnia 1999 r.
- Wzrost i Charakterystyka Kryształów. Sympozjum Naukowe, 6-7 kwiatnia 2000 r., Katowice, Polska. Materiały
- Inżynieria Materiałów Elektronicznych. II Seminarium zorganizowane pod patronatem KBN 16 grudnia 1997 roku
- Sass Jerzy, Rentgenodyfrakcyjna analiza odkształceń koherentnych w półprzewodnikowych strukturach warstwach AIIIBV
- Sprawozdanie z działalności Instytutu Technologii Materiałów Elektronicznych w roku 1995
- Cybulski Piotr, Problemy automatyzacji czynności pomiarowych w badaniach i technologiach występujących na terenie CNPME Piotr Cybulski, Tadeusz Żero.
- Cybulski Piotr, Automatyczny zestaw pomiarowy dla określania oporności właściwej metodą rozpływu oporności
- Kędra Jerzy, Zestaw zbiorczej cyfrowej rejestracji temperatury CRT-1
- Kędra Jerzy, Interface typu IDV-4 do współpracy woltomierza V-530 z drukarką VA-G-24A
- Kędra Jerzy, Uniwersalny segregator do podziału na pięć grup dowolnych wielkości zmienionych na sygnał napięciowy
- Matusewicz Stefan, Urządzenie adaptujące wyniki pomiaru Halla do rejestratora X - Y
- Nagłowski Piotr, Matematyczny model filtru z fala powierzchniową
- Sprawozdanie z działalności Instytutu Technologii Materiałów Elektronicznych w roku 1998
- Inżynieria Materiałowa - Materiały Elektroniczne. Seminarium organizowane pod patronatem KBN
- Rak Zbigniew S., Uwarunkowania i możliwości formowania ciśnieniowego ceramiki z zastosowaniem różnych mediów poślizgowo-wiążących
- Wzrost i Charakteryzacja Kryształów Objętościowych. Sympozjum Poznań, 25.04-26.04.2002
- Wojtkowski Tadeusz, Termistorowy miernik temperatury
- Kaczyński Łukasz, Metody korekcyjne ilościowej mikroanalizy rentgenowskiej pierwiastków lekkich
- Boniecki Marek, Zjawisko nadplastyczności w wybranych ceramikach tlenkowych
- Olesińska Wiesława, Spajanie ceramiki z metalami
-
PRACE ONPMP
| Nazwa wydania | Data |
|---|---|
| Bukowski Jacek, Analiza wolframu i tantalu za pomocą spektrografu masowego ze wzbudzeniem iskrowym | 2020-10-02 |
Obiekty
Podobne
Zinkiewicz Janusz M.
1973
Tekst
Stankiewicz Rafał Piątkowska Anna
2018
Książka/Rozdział
×
