Institute of Electronic Materials Technology

Resource type
- Text (842)
Collections
- Electronic Materials (836)
- ITME works (7)
Type of object
- Book/Chapter (60)
File type
- application/pdf (843)
Content format
- PDF (843)
Object availability
- Available (843)
Date issued/created A date associated with an event in the life cycle of the resource
Access
- Open (843)

Skip to main menu
Skip to search engine
Skip to content
Skip to footer

Items per page:

add all to bibliography

of 34 Next

Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych w ocenie międzynarodowej

Jeleński Andrzej

2016

Text

Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych (ITME) - wczoraj i dziś. Krótka historia i kalendarium

Jeleński Andrzej

2009

Text

Opracowanie wzorców używanych przy określeniu czystości materiałów elektronicznych metodami spektroskopowymi = Synthetic standards for trace analysis of electronic materials by atomic spectrometry techniques

Sokołowska Wanda

1992

Text

Współczesne metody badania składu chemicznego materiałów elektronicznych - wybrane zagadnienia = Contemporary methods of investigation - some aspect

Kalinowski Krzysztof

1991

Text

Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych (ITME) - wczoraj i dziś. Laboratorium Charakteryzacji Materiałów Wysokiej Czystości =

Sokołowska Wanda

2010

Text

Prezentacja głównego zakresu możliwosci obrazowania i analiza za pomoca mikroskopu Auriga Crossbeam Workstation firmy Carl Zeiss znajdującego się w Instytucie Technologii Materiałów Elektronicznych w Warszawie

Jóźwik, Iwona

2009

Text

Evaluation of hydrophobic properties of organic layers modified with graphene flakes

Stańczyk Beata

2017

Book/Chapter

The use of thermal mapping in evaluation of mechanically induced electrical degradation of graphene - based transparent heaters

Kozłowska Anna

2017

Book/Chapter

Zesz.Spec. 1983 = Special number 1983

1983

Text

Nowa kompozycja zalewowa do elementów mikroelektronicznych = A new casting composition for the electronic components

Nowacki Janusz

1974

Text

Pojemność różniczkowa granicy fazowej półprzewodnik - roztwór elektrolitu = Differential capacity of the semiconductor-electrolyte phase interface

Jackowska Krystyna

1974

Text

Skład izotopowy siarki zawartej w źródłach mineralnych = Isotopic composition of sulphur included in mineral sources

Szaran Janina

1974

Text

Przekroje czynne na jonizację elektronami niektórych związków siarki = Active cross-sections for ionization by electrons of some sulphur compounds

Żuk Włodzimierz

1974

Text

Zastosowanie badań izotopowych do wyznaczania wieku bezwzględnego pokładów geologicznych = Isotopic investigations in determination of geological layers absolute age

Zinkiewicz Janusz M.

1974

Text

Obudowy hermetyczne o niskim koszcie wytwarzania do układów mikroelektroniki = Hermetic envelopes of low production cost for integrated microcircuits

Maliszewski Bogdan

1974

Text

Tworzywa szklano-krystaliczne na płytki podłożowe do układów mikroelektronicznych

Gołajewski Zygmunt

1974

Text

Zastosowanie transmisyjnej topografii rentgenowskiej w nierównoległym układzie spektrometru dwukrystalicznego do badania homoepitaksjalnych warstw Si = Application of transmission X-ray topography in the non-parallel system of biocrystal spectrometer for homoepitaxial Si layers investigations

Sass Jerzy

1974

Text

Obudowy z tworzyw sztucznych przeznaczone do hermetyzacji mikroukładów hybrydowych = Plastics envelopes intended for encapsulation of hybride microcircuits

Nowacki Janusz

1973

Text

Problemy przemysłowej kontroli szczelności obudów elementów półprzewodnikowych za pomocą wykrywacza helowego = Problems met in industrial tightness control of the semiconductor element envlopes by means of helium detector

Taczanowski Andrzej

1973

Text

Otrzymywanie próżnioszczelnych połączeń metal-metal i metal-ceramika techniką zgrzewania dyfuzyjnego w próżni = Obtaining of vacuum-light metal, metal-cramics seals by diffussive welding in vacuum

Kulesza Tadeusz

1973

Text

Badanie wpływu ziarnistości proszku wolframu i ciśnienia prasowania na skurcz i gęstość spieku WNi1 i WCu20Ni3 = Investigation upon the influence of tungsten powder grainsize distribution and of pressing pressure on the shrinkage and density of sintered WNiI and WCu20NiI

Lejbrandt Marek

1973

Text

Zastosowanie warstw MoMn-FeSi do obudów ceramiczno-metalowych = MoMn-FeSi layers application for ceramics-metal envelopes

Włosiński Władysław

1973

Text

Badania wysokooporowego arsenku galu = Investigations of high-resistivity gallium arsenide

Nowysz Karol

1973

Text

Spis treści 1973 nr 4 = Contents 1973 nr 4

1973

Text

Informacja o metodzie analizy izotopowej węgla i siarki = Information about o method of iron and sulphur isotopic analysis

Hałas Stanisław

1973

Text

1
2
of
34

This page uses 'cookies'. More information