﻿[PL] ---------------------------------------------------------------------------
Tytuł: 
Badanie powstawania dyslokacji niedopasowania w krzemowych warstwach epitaksjalnych = The investigations of misfit dislocations creation in silicon epitaxial layers
Badanie powstawania dyslokacji niedopasowania w krzemowych warstwach epitaksjalnych
Materiały Elektroniczne 1980 nr 2(30)
Materiały Elektroniczne 1980 nr 2(30)

Główny plik publikacji: 
${mainFile}

Prosimy rozpocząć przeglądanie publikacji od jej pliku głównego.

W kwestii dalszego wykorzystania pobranej publikacji należy kontaktować się
z biblioteką cyfrową, z której plik został pobrany. Na stronach WWW z opisem 
tej publikacji powinny znajdować się dokładniejsze informacje 
dotyczące praw autorskich.

Ten plik zakodowany jest w standardzie UTF-8.
[EN] ---------------------------------------------------------------------------
Title:
Badanie powstawania dyslokacji niedopasowania w krzemowych warstwach epitaksjalnych = The investigations of misfit dislocations creation in silicon epitaxial layers
Badanie powstawania dyslokacji niedopasowania w krzemowych warstwach epitaksjalnych
Materiały Elektroniczne 1980 nr 2(30)
Materiały Elektroniczne 1980 nr 2(30)

Publication main file:
${mainFile}

Please start viewing the publication from its main file.

For further reuse of this publication please contact the digtial library 
from which the file was downloaded. On the website with the publication 
description you should be able to find more detailed information regarding 
the intellectual property rights.

This file is encoded in UTF-8 standard.
 ------------------------------------------------------------------------------
Generated automatically by dLibra Digital Library Framework.
- See http://dlibra.psnc.pl/ for more details.

