﻿[PL] ---------------------------------------------------------------------------
Tytuł: 
X-ray diffraction topography of lattice defects in MgAl2O4 and ScAlMgO4 crystals grown under different technological conditions
Rentgenowska topografia dyfrakcyjna defektów sieci krystalicznej w monokryształach MgAl2O4 i ScAlMgO4 otrzymywanych w różnych warunkach technologicznych
Electronic Materials T 43 Nr 1 2015
Materiały Elektroniczne T. 43 Nr 1

Główny plik publikacji: 
${mainFile}

Prosimy rozpocząć przeglądanie publikacji od jej pliku głównego.

W kwestii dalszego wykorzystania pobranej publikacji należy kontaktować się
z biblioteką cyfrową, z której plik został pobrany. Na stronach WWW z opisem 
tej publikacji powinny znajdować się dokładniejsze informacje 
dotyczące praw autorskich.

Ten plik zakodowany jest w standardzie UTF-8.
[EN] ---------------------------------------------------------------------------
Title:
X-ray diffraction topography of lattice defects in MgAl2O4 and ScAlMgO4 crystals grown under different technological conditions
Rentgenowska topografia dyfrakcyjna defektów sieci krystalicznej w monokryształach MgAl2O4 i ScAlMgO4 otrzymywanych w różnych warunkach technologicznych
Electronic Materials T 43 Nr 1 2015
Materiały Elektroniczne T. 43 Nr 1

Publication main file:
${mainFile}

Please start viewing the publication from its main file.

For further reuse of this publication please contact the digtial library 
from which the file was downloaded. On the website with the publication 
description you should be able to find more detailed information regarding 
the intellectual property rights.

This file is encoded in UTF-8 standard.
 ------------------------------------------------------------------------------
Generated automatically by dLibra Digital Library Framework.
- See http://dlibra.psnc.pl/ for more details.

