[PL] ---------------------------------------------------------------------------
Tytuł: 
Wykorzystanie wtórnej emisji elektronów, spektroskopii elektronów Augera i dyfrakcji powolnych elektronów do badania składu chemicznego i doskonałości powierzchni monokryształów = Application of secondary electron emission, Auger electron spectroscopy and low-energy electron diffraction in the investigation of perfection of a silicon crystal surface
Wykorzystanie wtórnej emisji elektronów, spektroskopii elektronów Augera i dyfrakcji powolnych elektronów do badania składu chemicznego i doskonałości powierzchni monokryształów
Materiały Elektroniczne 1987 nr 1(57)
Materiały Elektroniczne 1987 nr 1(57)

Główny plik publikacji: 
${mainFile}

Prosimy rozpocząć przeglądanie publikacji od jej pliku głównego.

W kwestii dalszego wykorzystania pobranej publikacji należy kontaktować się
z biblioteką cyfrową, z której plik został pobrany. Na stronach WWW z opisem 
tej publikacji powinny znajdować się dokładniejsze informacje 
dotyczące praw autorskich.

Ten plik zakodowany jest w standardzie UTF-8.
[EN] ---------------------------------------------------------------------------
Title:
Wykorzystanie wtórnej emisji elektronów, spektroskopii elektronów Augera i dyfrakcji powolnych elektronów do badania składu chemicznego i doskonałości powierzchni monokryształów = Application of secondary electron emission, Auger electron spectroscopy and low-energy electron diffraction in the investigation of perfection of a silicon crystal surface
Wykorzystanie wtórnej emisji elektronów, spektroskopii elektronów Augera i dyfrakcji powolnych elektronów do badania składu chemicznego i doskonałości powierzchni monokryształów
Materiały Elektroniczne 1987 nr 1(57)
Materiały Elektroniczne 1987 nr 1(57)

Publication main file:
${mainFile}

Please start viewing the publication from its main file.

For further reuse of this publication please contact the digtial library 
from which the file was downloaded. On the website with the publication 
description you should be able to find more detailed information regarding 
the intellectual property rights.

This file is encoded in UTF-8 standard.
 ------------------------------------------------------------------------------
Generated automatically by dLibra Digital Library Framework.
- See http://dlibra.psnc.pl/ for more details.

