@misc{Kiełbasiński_Konrad_Badanie_2013,
 author={Kiełbasiński Konrad},
 volume={41},
 editor={Zwierkowska Elżbieta},
 editor={Achmatowicz Selim},
 editor={Młożniak Anna},
 editor={Jakubowska Małgorzata},
 number={1},
 copyright={Rights Reserved - Free Access},
 journal={Electronic Materials},
 address={Warszawa},
 howpublished={online},
 year={2013},
 publisher={ITME},
 language={pol},
 title={Badanie właściwości szkliw pod kątem zastosowań w grubowarstwowych mikrorezystorach fotoformowalnych = Investigation of glasses for application in thick-film photoimageable microresistors},
 type={Text},
 URL={http://rcin.org.pl/itme/Content/36210/PDF/WA901_51932_M1_r2013-t41-z1_Mater-Elektron-Kielb_i.pdf},
 keywords={thick film photoimageable microresistors resistors, glass surface tension},
}