@misc{Wierzchowski_Wojciech_Rentgenograficzne_1988, author={Wierzchowski Wojciech}, volume={63}, number={3}, editor={Mazur Krystyna}, copyright={Rights Reserved - Free Access}, address={Warszawa}, journal={Electronic Materials}, howpublished={online}, year={1988}, publisher={Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"}, language={pol}, type={Text}, title={Rentgenograficzne badania półizolacyjnych monokryształów GaAs = X-ray investigation of semi-insulating GaAs single crystals}, URL={http://rcin.org.pl/itme/Content/9954/PDF/WA901_12697_M1_r1988-z3-63_Mater-Elektroniczne_Wierzchowski_i.pdf}, keywords={Electronic - journal - material, Electronic materials, SI GaAs, XRD, x-ray topography}, }