Skip to main menu
Skip to search engine
Skip to content
Skip to footer
en
pl
en
pl
Contrast
Login
en
pl
en
pl
Login
Contrast
Back
About project
About project
Mission
Partners and organization
Projects
Technical information
FAQ
Copyrights
Regulations
Preservation and archive policy
Privacy policy
Declaration of accessibility
Contact
Collections
Collections
Electronic Materials
ITME works
Doctoral and postdoctoral dissertations
Articles
Books
Indexes
Indexes
Title
Subtitle
Creator
Contributor
Publisher
Place of publishing
Date issued/created
Date on-line publ.
Date copyrighted
Date available
Description
Thesis degree information
Degree name
Level of degree
Degree discipline
Degree grantor
Subject and Keywords
Abstract
References
Relation
Citation
Volume
Issue
Start page
End page
Resource type
Format
Resource Identifier
Source
Language
Language of abstract
Coverage
Spatial coverage
Temporal coverage
Rights
Terms of use
Copyright holder
Digitizing institution
Original in
Projects co-financed by
Tags
Recently viewed
Recently viewed
Objects
Collections
RCIN Repositories
RCIN Repositories
INSTYTUT ARCHEOLOGII I ETNOLOGII POLSKIEJ AKADEMII NAUK
INSTYTUT BADAŃ LITERACKICH POLSKIEJ AKADEMII NAUK
INSTYTUT BADAWCZY LEŚNICTWA
INSTYTUT BIOLOGII DOŚWIADCZALNEJ IM. MARCELEGO NENCKIEGO POLSKIEJ AKADEMII NAUK
INSTYTUT BIOLOGII SSAKÓW POLSKIEJ AKADEMII NAUK
INSTYTUT CHEMII FIZYCZNEJ PAN
INSTYTUT CHEMII ORGANICZNEJ PAN
INSTYTUT FILOZOFII I SOCJOLOGII PAN
INSTYTUT GEOGRAFII I PRZESTRZENNEGO ZAGOSPODAROWANIA PAN
INSTYTUT HISTORII im. TADEUSZA MANTEUFFLA POLSKIEJ AKADEMII NAUK
INSTYTUT JĘZYKA POLSKIEGO POLSKIEJ AKADEMII NAUK
INSTYTUT MATEMATYCZNY PAN
INSTYTUT MEDYCYNY DOŚWIADCZALNEJ I KLINICZNEJ IM.MIROSŁAWA MOSSAKOWSKIEGO POLSKIEJ AKADEMII NAUK
INSTYTUT PODSTAWOWYCH PROBLEMÓW TECHNIKI PAN
INSTYTUT SLAWISTYKI PAN
SIEĆ BADAWCZA ŁUKASIEWICZ - INSTYTUT TECHNOLOGII MATERIAŁÓW ELEKTRONICZNYCH
MUZEUM I INSTYTUT ZOOLOGII POLSKIEJ AKADEMII NAUK
INSTYTUT BADAŃ SYSTEMOWYCH PAN
INSTYTUT BOTANIKI IM. WŁADYSŁAWA SZAFERA POLSKIEJ AKADEMII NAUK
Search field
How to search...
Advanced search
MAIN PAGE
|
Indexes
Index:
Title
Results:
1316
Title
Choose first letter
all
A
B
C
D
E
F
G
H
I
J
K
L
M
N
O
P
R
S
T
U
V
W
X
Z
Search in field Title
Prev
of
22
Next
Badania nad podwyższeniem wykrywalności pierwiastków w spektralnej analizie emisyjnej = Detectibility improvement in element emission spectral analysis
Badania nad syntezą i właściwościami TiW2Se4 = Investigation of synthesis and properties of TiW2Se4
Badania nad szybkością dyfuzji węgla w stopie żelaza z niklem i kobaltem-FeNi29Co17 (kowar) = Investigation of rate carbon diffusion in the iron-nickel-cobalt alloy FeNi29Ca17/Kovar/
Badania nad technologią, strukturą i niektórymi własnościami drutów z brązu srebrowego = Investigations on technology, structure and on some properties of silver bronze wires
Badania nad technologią, strukturą i niektórymi własnościami mechanicznymi brązu tytanowego CuTi4 = Investigations on technology, structure and some mechanical properties of CuTi4 titanium bronze
Badania nad wpływem domieszki CaO na własności spieków ceramicznych ZnO-Zr02 = Effect of CaO doping on properties of ZnO-ZrO2 sinters
Badania nad wpływem rozkładu uziarnienia proszku Al2O3 na gęstość wyrobów ceramicznych = The impact of grains distribution on ceramic products density
Badania nad zastosowaniem zgrzewania wybuchowego do wytwarzania blacvh bimetalicznych ze stopów CuSn5/AgPd30 = An application of explosion welding in manufacturing of bimetallic microprofiles
Badania nad złączami metal-szafir i szafir-lukalox = The study of metal-sapphire and metal-polycrystalline Al2)3 joints
Badania niektórych parametrów procesu trawienia stali = The investigations of some parameters of steel etching process
Badania optyczne i ESR monokryształów CaNdAlO4 = Optical and ESR measurement in CaNdAlO4 single crystals
Badania optyczne monokryształów podwójnej soli siarczanu dwuglicyny i siarczanu amonu = The optical investigation of double of diglycinum sulphate and amonium sulphate crystals
Badania półprzewodnikowych roztworów stałych za pomocą sond elektronowych i jonowych = Research in semiconductor dolid solutions by means of electron and ion probes
Badania procesów krystalizacji węglika krzemu = Investigation of the crystallization of silicon carbide
Badania procesu zagęszczania i własności spiekanej pod ciśnieniem ceramiki korundowej - Al2O3 = Studies on densification process and properties of hot pressed alumina ceramics-Al2O3
Badania proszków ze stopów Pb-Sn do past lutowniczych stosowanych w powierzchniowym montażu sprzętu elektronicznego = The investigation of Pb-Sn powders for the soldering pastes used for the assembly of electronic devices
Badania realnej struktury monokryształów i warstw epitaksjalnych z zastosowaniem promieniowania synchrotronowego i symulacji obrazów dyfrakcyjnych = The study of single crystals and epitaxial layers with the use synchrotron radiation and simulation of diffraction images
Badania SEM powierzchni styków z kompozytu WC-Ag po pracy w łuku elektrycznym = SEM study of WC-Ag contact surface after ARC testing
Badania widm absorpcyjnych w półizolacyjnym GaAs = Investigation of absorption spectra of Si GaAs
Badania wysokooporowego arsenku galu = Investigations of high-resistivity gallium arsenide
Badania właściwości substancji stosowanych do wytłumiania filtrów z akustyczną falą powierzchniową = Investigation of properties of materials applied for spurious signals suppresion in surface acoustic wave filters
Badania właśnościmechanicznyc materiałów ceramicznych = The study of mechanical properties of ceramic materials
Badania zależności składu i struktury chemicznie osadzonych warstw azotku krzemu od parametrów procesu technologicznego = Investigation of chemically deposited Si3N4 films composition and structure-depending on technological process parameters
Badania zmian morfologicznych produktów rozkładu parawolframianu amonowego = On the morphology products of thermal decompositions of ammonium paratungstate
Badania związane z opracowaniem pasty lutowniczej cynowo-ołowiowej przeznaczonej do lutowania stali kwasoodpornych = The investigations performed during designing of tin-lead soldering paste applied for soldering of acid-proof steel
Badanie adhezji warstw miedziowych metodą mikroanalizy rentgenowskiej = Investigations of copper films adhesion by x-ray microanalysis
Badanie aktywności elektrycznej defektów strukturalnych w monokryształach półprzewodnikowych = Investigation of the electrical activity of structural defects in semiconductors monocrystals
Badanie centrów defektowych w hweterostrukturach laserowych AlGaAs/GaAs ze studnią kwantową GaAsP = Investigation of defect centres in laser heterostructures of AlGaAs/GaAs with GaAsP quantum well
Badanie cienkich warstw magnetycznych granatów metodą FMR = Investigation of thin magnetic films by FMR method
Badanie defektów krystalograficznych generowanych w trakcie operacji wytwarzania tranzystora p-n-p = Examination of crystallographic defects during p-n-p transistor process technology
Badanie defektów typu 'antisite" w kryształach AIIIBV metodą EPR = Electron Spin resonanc e of AsGa "antisite" defects in crystal type AIIIBV
Badanie doskonałości struktury monokryształów GaAs o obniżonej gęstości dyslokacji = The investigation of low dislocation GaAs single crystals perfection
Badanie dyslokacji w krzemie i w krzemowych warstwach epitaksjalnych za pomocą rentgenowskiej topografii odbiciowej metodą Berga-Barretta = The investigation of dislocations in Si and in epitaxial Si layers by Berg-Barret x-ray reflection topography
Badanie efektu piroelektrycznego płytek niobianu litu o różnej orientacji = Study of pyroelectrical effect for LiNbO3 plates of different orientation
Badanie głębokich centrów defektowych w warstwach epitaksjalnych GaN:si metoda niestacjonarnej spektroskopii pojemnościowej (DLTS)
Badanie heterostruktur związków AIIIN zawierających warstwy ultracienkie = The investigation of heterostructures based on AIIIN compounds with ultra thin crystalline layers
Badanie jednorodności oporności krzemowych warstw epitaksjalnych = Investigations of homogenity of silicon epitaxial layers resistivity
Badanie kinetyki odwęglania stopu FeNi29Co17 /kowar/ w środowisku gazowym H2 + H2O. Cz. 1.: Badania nad szybkością dyfuzji węgla w stopie FeNi29Co17 = The study of decarborization of FeNi29Co17 stop in H2+H2O atmosphere. Part 1. Studies on the carbon diffusion rate in the FeNi29Co17 alloy
Badanie kinetyki odwęglania stopu FeNi29Co17 /kowar/ w środowisku gazowym H2 + H2O. Cz. II.: Badania wpływu różnych punktów rosy środowiska gazowego H2 + H2O na przebieg procesu odwęglania stopu FeNi29Co17. Part 1 = The study of decarborization of FeNi29Co17 stop in H2+H2O atmosphere. Part II. Study of the influence of different dew-joints of H2+H20 gas mixture on the dicarbonization process of FeNi29Cd7 alloy
Badanie kinetyki rozprzestrzeniania się pęknięć w tworzywach ceramiczych na podstawie zmian oporności i emisji akustycznej pod obciążeniem mechanicznym = Kinetic studies of cracks programation in ceramic materials based on the analysis of resistivity and accoustic changes of the samples under load
Badanie maskowania procesu termicznego utleniania krzemu przez chemicznie osadzane warstwy azotku krzemu = Masking investigation of silicon thermal oxidation process by chemically deposited Si3N4 films
Badanie materiałów do struktur grubowarstwowych typu rezystor na dielektryku = Investigations of materials for thick film structures resistors on dielectrics
Badanie metodą ESR półizolacyjnych kryształów GaAs i InP naświetlanych elektronami = ESR study of paramagnetic defects in electron-irradiated InP and GaAs crystals
Badanie metodą kanałowania jonów redystrybucji atomów implantowanych w kryształach żelaza. Praca doktorska = Study by ion channeling method the redistribution of implanted atoms in ion crystals
Badanie metodamia wysokorozdzielczej dyfraktometrii rentgenowskiej monokryształów ZnO bombardowanych jonami Ar
Badanie mikroporowatości polerowanej powierzchni płytek krzemowych w celu dostosowania sposobu ich wytwarzania do nowych wymagań jakościowych = Study of micro-roughness of the polished surface of silicon wafers aimed at fulfilling the new quality requirements
Badanie możliwości otrzymywania monokryształów tlenków żelaza i niklu metodą transportu materiału w łuku elektrycznym prądu stałego = Research in receiving of ferric and nickel oxide by the method of material transport in d.c. electric arc.
Badanie nad otrzymywaniem jednorodnych monokryształów krzemu domieszkowanych antymonem = Research in receiving of homogeneous silicon monocrystals strong doped with antimony
Badanie naprężeń w krzemie otrzymanym metodą Czochralskiego = Studies of residual stress in Czochralski-grown crystals
Badanie naprężeń wprowadzanych do diod laserowych podczas montażu za pomocą In oraz stopu eutektycznego AuSn = Investigation of solder - induced strains in laser diodes soldered by indium or eutectic AuSn
Badanie nieidealnej struktury supersieci (In)GaAs/GaAs(P) za pomocą rentgenowskiej analizy dyfrakcyjnej = The investigation of the non-ideal structure of the GaAs(P)/GaAs superlattice by means of XRD technique
Badanie niejednorodności w bezdyslokacyjnych monokryształach krzemu po transmutacji neutronowej = The investigation of heterogeneities in neutron transmulated silicon single crystals
Badanie odkształceń sieci krystalicznej w implantowanej warstwie epitaksjalnej GaN osadzonej metodą MOCVD na podłożu szafirowym o orientacji [001] = Lattice strain study in implanted GaN epitaxial layer deposited by means of MOCVD technique on [001] oriented sapphire substrate
Badanie powierzchni monokryształów tlenkowych, jej modyfikacja pod kątem zastosowania w epitaksji cienkich warstw = Investigation of surface of oxide single crystals and possibilities of surface modification for thin films applications
Badanie powierzchniowej warstwy uszkodzonej na płytkach monokrystalicznych krzemu = Investigation of the damaged surface layer on monocrystalline silicon wafers
Badanie powstawania dyslokacji niedopasowania w krzemowych warstwach epitaksjalnych = The investigations of misfit dislocations creation in silicon epitaxial layers
Badanie profilu składu chemicznego i lateralnej jednorodności studni kwantowych związków półprzewodnikowych AIIIBV = The investigation of the chemical composition profile and laterial homogenity of AIIIBV quatum wells
Badanie przydatności płytkowego źródła domieszek arsenu do krzemu = Investigation of use the solid planar source to dope silicon with arsenic
Badanie rekombinacji promienistej w warstwach epitaksjalnych GaAs1-xPx o składzie 0,3 < x <0,44 = Investigation of radiative recombination in GaAs1-xPx epitaxial layers with 0,3<x<0,44
Badanie rozkładów właściwości elektrycznych i optycznych monokryształów GaP stosowanych w optyce podczerwieni = Investigation of spatial distributions of electrical and optical properties of GaP single crystals
Prev
1
2
3
of
22
Next
This page uses 'cookies'.
More information
I understand