- About project
- Collections
- Indexes
- Recently viewed
-
RCIN Repositories
-
INSTYTUT ARCHEOLOGII I ETNOLOGII POLSKIEJ AKADEMII NAUK
-
INSTYTUT BADAŃ LITERACKICH POLSKIEJ AKADEMII NAUK
-
INSTYTUT BADAWCZY LEŚNICTWA
-
INSTYTUT BIOLOGII DOŚWIADCZALNEJ IM. MARCELEGO NENCKIEGO POLSKIEJ AKADEMII NAUK
-
INSTYTUT BIOLOGII SSAKÓW POLSKIEJ AKADEMII NAUK
-
INSTYTUT CHEMII FIZYCZNEJ PAN
-
INSTYTUT CHEMII ORGANICZNEJ PAN
-
INSTYTUT FILOZOFII I SOCJOLOGII PAN
-
INSTYTUT GEOGRAFII I PRZESTRZENNEGO ZAGOSPODAROWANIA PAN
-
INSTYTUT HISTORII im. TADEUSZA MANTEUFFLA POLSKIEJ AKADEMII NAUK
-
INSTYTUT JĘZYKA POLSKIEGO POLSKIEJ AKADEMII NAUK
-
INSTYTUT MATEMATYCZNY PAN
-
INSTYTUT MEDYCYNY DOŚWIADCZALNEJ I KLINICZNEJ IM.MIROSŁAWA MOSSAKOWSKIEGO POLSKIEJ AKADEMII NAUK
-
INSTYTUT PODSTAWOWYCH PROBLEMÓW TECHNIKI PAN
-
INSTYTUT SLAWISTYKI PAN
-
SIEĆ BADAWCZA ŁUKASIEWICZ - INSTYTUT TECHNOLOGII MATERIAŁÓW ELEKTRONICZNYCH
-
MUZEUM I INSTYTUT ZOOLOGII POLSKIEJ AKADEMII NAUK
-
INSTYTUT BADAŃ SYSTEMOWYCH PAN
-
INSTYTUT BOTANIKI IM. WŁADYSŁAWA SZAFERA POLSKIEJ AKADEMII NAUK
-
- 15R-SiC w kryształach 4H- i 6H-SiC otrzymywanych metodą transportu fizycznego z fazy gazowej = 15R-SiC inclusions in 4H-and 6H-SiC crystals grown by the physical vapour transport method
- A constribution to the sonsideration of the synthesis of compounds by the reaction sintering of Oxide powders = Niektóre aspekty reakcji składników w procesie spiekania sproszkowanych tlenków
- A helical-coil resonator magnetically coupled with microstrip transmission line for EPR spectroscopy = Rezonator helikalny sprzężony magnetycznie z linią mikropaskową do zastosowań w spektroskopii EPR
- A method for correction of elastic and piezoelectric constants of crystals using measured surface acoustic wave parameters = Metoda korekcji stałych elastycznych i piezoelektrycznych kryształów z wykorzystaniem zmierzonych parametrów akustycznych fal powierzchniowych
- Acoustic plate modes in GaN crystal plates cut perpendicularly to crystallographic Z axis
- Active fluoride glasses
- Akustyczne mody płytowe w płytkach z kryształu GaN wyciętych prostopadle do osi krystalograficznej Z
- Al2O3-ZrO composite reinforced with graphene plateles
- Alumina-FeNi42 foil and AgCuTiIn alloy joints and their high thermal shock resistance = Odporność na wstrząsy cieplne złącza ceramika-metal alundowa - FeNi42 oraz wtopu AgCuTiIn
- Amorficzny krzem w mikroelektronice = Amorphous silicon in microelectronics
- Amorphous chalcogenide semiconductors for solid state dosimetric systems of high-energetic ionizing radiation = Chalkogenkowe półprzewodniki amorficzne do systemów dozymetrycznych wysokoenergetycznego promieniowania jonizującego na podstawie ciał stałych
- Analiza błędu wartości parametrów centrów defektowych wyznaczanych metodą niestacjonarnej spektroskopii fotoprądowej PITS = Error analysis of the parameters of the defect centres determined by the photoinduced transient spectroscopy PITS
- Analiza defektów występujących w strukturze krzemu na podstawie obserwacji taśm krzemowych otrzymanych metodą EPG. Cz. II = An analysis of the defects occuring in silicon structure on the base of EPG silicon ribbon observation. Part II
- Analiza defektów występujących w strukturze krzemu na podstawie obserwacji taśm krzemowych otrzymywanych metodą EFG. Part 1. = Analysis of the defects occuring in the silicon structure on the base of EPG silicon ribbon observation. Part 1
- Analiza i optymalizacja mikrofalowych wzmacniaczy kwantowych = Analysis and optimization of microwave quantum amplifiers
- Analiza metod badawczych materiałów proszkowanych stosowanych w technice elektronowej = Analysis of experimental method characterizing powder materials used in electronic technology
- Analiza metod badawczych materiałów proszkowanych stosowanych w technice elektronowej = The measurements of surface acoustic wave properties in LiNbO3
- Analiza możliwości wykorzystania szkieł wieloskładnikowych do wytwarzania światłowodów do przesyłania promieniowania z zakresu średniej podczerwieni = The possibility of application of multicomponent glasses for MID infrared (2-3,5 micrometer) waveguide manufacturing
- Analiza możliwości zastosowania wysokorozdzielczej dyfraktomaterii rentgenowskiej do badań parametrów strukturalnych warstw epitaksjalnych i supersieci = The possibility of application of high resolution x-ray diffraction for determination the structural parameters of epilayers and superlattices
- Analiza platyny i rodu za pomocą spektrometru masowego = Analysis of platinum and rhodium using a mass spectrometer
- Analiza profilu rentgenowskiego widma dyfrakcyjnego w przypadku jednowymiarowej modulacji składu chemicznego. Praca doktorska = Analysis of the X-ray diffraction pattern profile in the case of one-dimensional modulation of the chemical composition
- Analiza rentgenowskiego widma periodycznej supersieci = Analysis of the X-ray intensity spectrum for the periode superlattice
- Analiza śladowa związków metaloorganicznych wysokiej czystości dla epitaksji = Trace analysis of high purity organo-metallic compounds for epitaxy
- Analiza stanów naprężeń w procesach ciągnienia i hydrostatycznego wyciskania drutu = An analysis of the state of stresses in drawing and hydrostatic extrusion processes
- Analiza termiczna ałunu (NH4)2SO4 - Al2(SO4)3 - 24H2O = Thermal analysis of alum /NH4/2SO4/ - 24H2O3
- Analiza termiczna procesów krystalizacji szkieł kordierytowych = Thermal analysis of crystallization process in cordierite glasses
- Analiza termodynamiczna utleniania metalui trudnotopliwych i reducji ich tlenków = Thermodynamical analysis of oxidation of refractory metals and reduction of their oxides
- Analiza wolframu i tantalu za pomocą spektrografu masowego ze wzbudzeniem iskrowym = Analysis of tungsten and tantalum using a mass spectrometer with spark excitation
- Analiza właściwości dwuwiązkowego interferometru siatkowego z laserem półprzewodnikowym. = Analysis of the properties of double - beam grating interferometer with semiconductor laser
- Analiza własności mechanicznych materiałów ceramicznych metodami mechaniki pękania = Fracture mechanics analysis of mechanical properties of ceramic materials
- Analiza zjawisk zachodzących w kompozytowych materiałach stykowych w łuku elektrycznym = Analysis of the phenomena occuring in composite contact materials in electric arc
- Analiza zjawiska wtórnego spiekania kompozytowych materiałów stykowych typu metal-metal w łuku elektrycznym = Analysis of secondary sintering phenomena of composite contact materials metal-metal type in the electric arc
- Analysis blind microvias forming process in multilayer printed circuit boards = Analiza procesu formowania mikrootworów nieprzelotowych w wielowarstwowych płytkach obwodów drukowanych
- Analysis of crystal lattice deformation in the vicinity of dislocation
- Aparatura do badan właściwości cieplnych materiałów = Apparatus and research problems concerning investigations of material thermal properties
- Arsenek galu : z doświadczeniem ku przyszłości = Gallium arsenide: with experience towards future
- Assembly and solidering problems in Leadfree through hole reflow technique = Problemy montażowe i lutownicze w bezołowiowej technice lutowania rozpływowego elementów przewlekanych
- Automatyczny zestaw pomiarowy dla określania oporności właściwej metodą rozpływu oporności = Automatic measuring system for resistance determining by the spreading resistance method
- Azotek krzemu stosowany w technologii planarnych fotodiod wykonanych na bazie InP = Silicon nitride for InP based planar photodiode applications
- B-BaB2O4 single crystals obtained by Czochralski method
- Badania absorpcji w kryształach niobanu litu domieszkowanego erbem = The absorption spectra of Er3+ doped LiNbO3 single crystals
- Badania centrów defektowych poprzez pomiary termiczne lub optycznie stymulowanych prądów i pojemności złącz p-n i barier Schottky'ego = The investigation of defect centor by measuring of thermal or optical stimulated currents and capacitance of p-n junctions and Schottky barriers
- Badania degradacji diod laserowych na pasmo 880 nm = The investigation of degradation of laser diodes emitting at 880 nm band
- Badania dla uzyskania wolframu o wysokiej gęstości = Hot isostatic pressing of tungsten
- Badania doskonałości strukturalnej monokryształów SI GaAs = The investigation of Si GaAs single crystals perfection
- Badania eksperymentalne dyfuzji i termofyfuzji srebra w Al2O3 = Experimental studies of diffusion and thermodiffusion of silver into Al2O3
- Badania elipsometryczne krzemu implantowanego fosforem = Ellipsometric studies of P+ implanted silicon
- Badania emisji akustycznej przy zginaniu trójpunktowym gęstych, drobnoziarnistych tworzyw ceramicznych = Acoustic emission of dense ceramic materials by three - point bending
- Badania faz wzrostu monokryształów krzemu otrzymywanych metodą VLS z zastosowaniem złota i platyny = Investigations of growth phases of the silicon monocrystals grown by the VLS method using gold and platinum
- Badania heteroepitaksjalnych warstw GaAs1-xPx/GaAs za pomocą prześwietleniowej mikroskopii elektronowej = Investigation of heteroepitaxial layers GaAs1-xPx/GaAs by means of transmission electron microscopy
- Badania heteroepitaksjalnych warstw GaAs1-xPx/GaAs za pomocą skaningowej i prześwietleniowej mikroskopii elektronowej = Investigation of heteroepitaxial layers of GaAs1-x Px/GaAs by means of scanning and transmission electron microscopy
- Badania metodami rentgenowskiej topografii dyfrakcyjnej defektów strukturalnych monokryształów Y2Al5O12 silnie domieszkowanych neodymem = The investigation of structural defects in the heavily Nd - doped YAG crystals by means of \\x-ray diffraction topography
- Badania mikrostruktury półprzewodnikowych materiałów tlenkowych = Investigation of microstructure semiconductor oxides
- Badania modelowe morfologii mieszanin proszków Ag-C uzyskanych w procesie mechanicznej syntezy = Modelling investigation of morphology for Ag-C powders mixtures created by mechanical alloying process
- Badania nad mechanicznym i chemicznym pocienianiem termicznie połączonych płytek krzemowych = The investigation of the mechanical and chemical thinning of silicon bonded wafers
- Badania nad optymalizacją procesów technologicznych = Investigation of technologic processes optimization
- Badania nad otrzymywaniem materiałów scyntylacyjnych bogatych w TAL = Investigations of scintilating materials rich in thallium
- Badania nad otrzymywaniem porowatego szkieletu wolframowego metodą spiekania aktywowanego = Investigation porous tungsten structure obtaining by means of the activated sintering method
- Badania nad otrzymywaniem tytanianów metali dwuwartościowych w postaci proszków ceramicznych o wysokiej czystości idyspersji = Investigations of obtaining of bivalent metals titanates in the form of high purity and dispersion ceramic powders
- Badania nad otrzymywaniem warstw epitaksjalnych arsenku galu z fazy gazowej w układzie otwartym Ga-AsCl3-H2 = Investigations on obtaining of gallium arsenide epitaxial layers from gase phase in the open system Ga-AsCl3-H2
