Institute of Electronic Materials Technology

Resource type
- Text (25)
Collections
- Electronic Materials (23)
- ITME works (2)
File type
- application/pdf (25)
Content format
- PDF (25)
Object availability
- Available (25)
Date issued/created A date associated with an event in the life cycle of the resource
Access
- Open (25)

Skip to main menu
Skip to search engine
Skip to content
Skip to footer

Items per page:

add all to bibliography

of 1

Krzemowe warstwy epitaksjalne o zmiennym profilu rezystywności = Silicon epitaxial layers with profiled resistivity

Nossarzewska-Orłowska Elżbieta

1985

Text

Ograniczenie zjawiska samodomieszkowania w epitaksji krzemu = Limitation of the autodoping effects a silicon epitaxy

Nossarzewska-Orłowska Elżbieta

1985

Text

Epitaksja GaP/GaP z fazy gazowej dla przyrządów emitujących swiatło żółto-zielone. Własności strukturalne i elektrooptyczne = Vapour phase epitaxy for devices emitting the yellow-green light the structural and electrooptical properties

Strupiński Włodzimierz

1985

Text

Centra defektowe w warstwach epitaksjalnych GaAs0.6P0.4 = Defect centers in GaAs0,6P0,4 epitaxial layers

Kamiński Paweł

1985

Text

Badania zmian morfologicznych produktów rozkładu parawolframianu amonowego = On the morphology products of thermal decompositions of ammonium paratungstate

Ważyńska Barbara

1985

Text

Spis treści 1985 nr 2(50) = Contents 1985 nr 2(50)

1985

Text

Zjawisko magnetoelektryczne i perspektywy jego zastosowań = Magnetoelectric effects and possible application for magnetoelectric materials

Wadas Andrzej

1985

Text

Indukcyjna plazma mikrofalowa (MIP) jako źródło wzbudzenia w spektroskopii emisyjnej. Model spektrometru = Microwave induced plasma (MIP) as an excitation source in emission spectroscopy. Model of the spectrometer

Ramsza Andrzej P.

1985

Text

Spis treści 1985 nr 1(49) = Contents 1985 nr 1(49)

1985

Text

Amorficzny krzem w mikroelektronice = Amorphous silicon in microelectronics

Pietruszko Stanisław

1985

Text

Oddziaływanie promieniowania UV z kryształami związków glicyny = The interaction of UV radiation to glycin family crystals

Łabuz Stanisław

1985

Text

Wpływ CoO i Mn2O3 na własności elektryczne tworzywa warystorowego na bazie ZnO = Influence of Coa and Mn2O3 on electrical properties of metal oxide varistors

Hozer Leszek

1985

Text

Spis treści 1985 nr 4(52) = Contents 1985 nr 4(52)

1985

Text

Określanie stopnia kompensacji w Si : P na podstawie temperaturowej zależności koncentracji elektronów = Compensation ratio determination for Si:P based on electron concentration temperature dependence

Kot Waldemar

1985

Text

Elektrycznie czynne defekty w krzemie domieszkowanych fosforem poprzez neutronową transmutację krzem-fosfor = Electrically active in silicon doped by neutron transmulation: silicon-phosphorus

Nowysz Karol

1985

Text

Pomiar koncentracji nośników większościowych w warstwach epitaksjalnych związków AIIIBV metodą napięcia przebicia = Measurement of the carrier concentration in epitaxial layers of III-V compounds by the breakdown voltage method

Kot Waldemar

1985

Text

Z badań nad rosrostem ziaren w procesie spiekania ferrytu niklawo-cynkowego o składzie zbliżonym do Ni0.4Zn0.6Fe2O4 w temperaturze 1573 K = The examinations of the grain growth of the Ni0,4ZnFe2O4 ferrite during the sintering process in 1573 K

Kwiatkowski Antoni

1985

Text

Sposób sterowania procesem technologicznym porowatych wyrobów spiekanych o zadanych własnościach = The control procedure of technological process of porous sintered products according to assummed properties

Krygiel Andrzej

1985

Text

Układ polaryskopu optycznego do bdań naprężeń w materiałach półprzewodnikowych = Plane polariscope for photoelastic measurement of semiconductors

Adamkiewicz, Grażyna

1985

Text

Sposób wyznaczania rezystywności materiałów stykowych na próbkach w kształcie krążków = Procedure of resistivity assigning of contact materials on samples in form of cicrular plates

Chylińska Maria

1985

Text

Spis treści 1985 nr 3(51) = Contents 1985 nr 3(51)

1985

Text

Polikrystaliczne spieki diamentowe = Sintered diamonds

Badzian Andrzej

1985

Text

Fotometryczna metoda pomiaru naprężeń w materiałach półprzewodnikowych = Intensity method for stress measurement of semiconductors

Bajor Andrzej

1985

Text

Modelowanie procesu epitaksji z fazy gazowej = The modeling of the CVD epitaxial process

Korec Jacek

1985

Text

Spis treści 1984 nr 4(48) = Contents 1984 nr 4(48)

1984

Text

1
of
1

This page uses 'cookies'. More information