Institute of Electronic Materials Technology

Resource type
- Text (5)
Collections
- Electronic Materials (5)
Type of object
- Book/Chapter (1)
File type
- application/pdf (5)
Content format
- PDF (5)
Object availability
- Available (5)
Date issued/created A date associated with an event in the life cycle of the resource
Access
- Open (5)

Skip to main menu
Skip to search engine
Skip to content
Skip to footer

Items per page:

add all to bibliography

of 1

Deep defect centres in ultra-high-resistivity FZ silicon

Kamiński Paweł

2014

Book/Chapter

Zastosowanie metody DLTS do badania głębokich centrów defektowych w warstwach epitaksjalnych wieloskładnikowych związków AIIIBV = Application of DLTS method to investigation of deep defect centers in epitaxial layers of multicomponent III-V compounds

Kozłowski Roman

1998

Text

Głębokie centra defektowe w krzemowych warstwach epitaksjalnych zanieczyszczonych żelazem= Deep-level defects in Fe-contaminated epitaxial silicon

Plewa Dariusz

1995

Text

Badanie głębokich centrów defektowych w warstwach epitaksjalnych GaN:si metoda niestacjonarnej spektroskopii pojemnościowej (DLTS)

Kozubal Michał

2006

Text

Głębokie centra defektowe w warstwie czynnej tranzystorów MESFET = Deep defect centres in active layer of MESFETs

Kamiński Paweł

1993

Text

1
of
1

This page uses 'cookies'. More information