Institute of Electronic Materials Technology

Skip to main menu
Skip to search engine
Skip to content
Skip to footer

Items per page:

add all to bibliography

of 1

Rentgenodyfrakcyjna analiza odkształceń koherentnych w półprzewodnikowych strukturach warstwach AIIIBV. praca doktorska = X-ray diffractiometric analysis of coherence deformation in AIIIBV semiconductor layered structures

Sass Jerzy

1998

Book/Chapter

Investigation of oxide crystals by means of synchrotron and conventional X-raydiffraction topography Wojciech Wierzchowski, Agnieszka Malinowska, Krzysztof Wieteska, Edyta Wierzbicka, Krystyna Mazur, Maria Lefeld - Sosnowska, Marek Świrkowicz, Tadeusz Łukasiewicz.

Wierzchowski Wojciech

2016

Book/Chapter

Investigation of the defect structure in the new types of undoped and Pr-doped scintillator single crystals of mixed lutetium-yttrium-aluminum garnets [LuxY1-x]Al5O12 (LuYAG)

Malinowska Agnieszka

2015

Text

O defektach sieci przestrzennej kryształów badanych metodami rentgenowskimi = Lattice defects studied by x-ray methods

Badzian Andrzej

1984

Text

Badania metodami rentgenowskiej topografii dyfrakcyjnej defektów strukturalnych monokryształów Y2Al5O12 silnie domieszkowanych neodymem = The investigation of structural defects in the heavily Nd - doped YAG crystals by means of \\x-ray diffraction topography

Mazur Krystyna

1988

Text

Metoda badań rentgenowskich struktury pasmowej ciał stałych na przykładzie miedzi = X-ray examination method of solid state band structure, based on the example of copper

Badzian Andrzej

1981

Text

Syntezy wysokociśnieniowe kryształów o strukturze typu diamentu i ich struiktura atomowa w świetle badań rentgenowskich = High pressure synthesis of diamond type structure phase and their atomic structure

Badzian Andrzej

1984

Text

Odwzorowywanie dyslokacji w krzemowych warstwach epitaksjalnych metodami odbiciowymi rentgenowskiej topografii dyfrakcyjnej = The images of dislocations in silocon epitaxial layers obtained with help of X-ray diffraction topographic methods

Wierzchowski Wojciech

1984

Text

Rozwinięcie i zastosowanie darwinowskiej teorii dyfrakcji promieni rentgenowskich do określania struktury i składu chemicznego kryształów wielowarstwowych = Development and application of Darwin x-ray diffraction theory for structure and chemical composition determination in multilayered crystals

Wójcik Marek

2000

Text

Numeryczne metody rozpłatania rentgenowskiego widma dyfrakcyjnego. Zastosowanie do badania supersieci półprzewodnikowych = The numerical x-ray peaks refinements applied to the semiconductor superlattice spectra

Gaca Jarosław

1992

Text

X-ray diffraction topography of lattice defects in MgAl2O4 and ScAlMgO4 crystals grown under different technological conditions

Wierzbicka Edyta

2015

Text

Otrzymywanie warstw SiCN metoda RF sputteringu = SiCN films deposited by RF magnetron sputtering

Stańczyk Beata

2011

Text

1
of
1

This page uses 'cookies'. More information