54 s. : il. 24 cm. ; Bibliogr. s.50-53
ITME, sygn. dostępny ; click here to follow the link
Copyright-protected material. May be used within the limits of statutory user freedoms
Institute of Electronic Materials Technology
Library of the Electronic Materials Technology Institute
Programme Innovative Economy, 2010-2014, Priority Axis 2. R&D infrastructure ; European Union. European Regional Development Fund
Oct 2, 2020
Sep 18, 2013
807
https://rcin.org.pl/itme/publication/18750
Edition name | Date |
---|---|
Palczewska Maria, Charakteryzacja defektów paramagnetycznych w związkach półprzewodnikowych typu AIIIBV metodą ESR | Oct 2, 2020 |
Palczewska Maria
Jabłoński Ryszard
Świderski Jarosław
Piga Witold
Żdanowicz Witold
Pawłowski Mariusz