Wpływ obszarów koherentnego rozpraszania w materiałach ze strukturą modulowaną na rentgenowskie widmo dyfrakcyjne. Praca doktorska - Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych

Przejdź do menu głównego
Przejdź do wyszukiwarki
Przejdź do treści
Przejdź do stopki

Wpływ obszarów koherentnego rozpraszania w materiałach ze strukturą modulowaną na rentgenowskie widmo dyfrakcyjne. Praca doktorska

Pobierz

Tytuł: Wpływ obszarów koherentnego rozpraszania w materiałach ze strukturą modulowaną na rentgenowskie widmo dyfrakcyjne. Praca doktorska

Twórca:

Data wydania/powstania:

Typ zasobu:

Inny tytuł:

Prace doktorskie

Współtwórca:

Adamczyk, Antoni : Promotor.

Wydawca:

Miejsce wydania:

Opis:

124 s. : il. ; 30 cm. ; Bibliogr. s. 120-124

Typ obiektu:

Książka/Rozdział

Czasopismo/Seria/cykl:

Praca doktorska

Strona pocz.:

Strona końc.:

Szczegółowy typ zasobu:

Praca doktorska

Format:

application/pdf

Identyfikator zasobu:

oai:rcin.org.pl:36960

Źródło:

ITME, sygn. P/1597 ; kliknij tutaj, żeby przejść

Język:

Prawa:

Prawa zastrzeżone - dostęp nieograniczony

Zasady wykorzystania:

Zasób chroniony prawem autorskim. Korzystanie dozwolone w zakresie określonym przez przepisy o dozwolonym użytku.

Digitalizacja:

Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych

Lokalizacja oryginału:

Biblioteka Instytutu Technologii Materiałów Elektronicznych

Dofinansowane ze środków:

Program Operacyjny Innowacyjna Gospodarka, lata 2010-2014, Priorytet 2. Infrastruktura strefy B + R ; Unia Europejska. Europejski Fundusz Rozwoju Regionalnego

Dostęp:

Temat i słowa kluczowe:

Elektronika - materiały Materiały elektroniczne XRD kryształ modulowy supersieć modulowy skład chemiczny rozpraszanie koherentne

Kolekcje, do których przypisany jest obiekt:

Sieć Badawcza Łukasiewicz – Instytut Mikroelektroniki i Fotoniki > Rozprawy doktorskie i habilitacyjne

Data ostatniej modyfikacji:

2 paź 2020

Data dodania obiektu:

6 gru 2013

Liczba pobrań / odtworzeń:

249

Wszystkie dostępne wersje tego obiektu:

https://rcin.org.pl/itme/publication/29714

Wyświetl opis w formacie RDF:

Wyświetl opis w formacie RDFa:

Wyświetl opis w formacie OAI-PMH:

ROZPRAWY DOKTORSKIE i HABILITACYJNE

Nazwa wydania	Data
Wójcik Marek, Wpływ obszarów koherentnego rozpraszania w materiałach ze strukturą modulowaną na rentgenowskie widmo dyfrakcyjne. Praca doktorska	2 paź 2020

Obiekty Podobne

Badanie nieidealnej struktury supersieci (In)GaAs/GaAs(P) za pomocą rentgenowskiej analizy dyfrakcyjnej

Wójcik Marek

1994

Tekst

Analiza profilu rentgenowskiego widma dyfrakcyjnego w przypadku jednowymiarowej modulacji składu chemicznego. Praca doktorska

Gaca Jarosław

1997

Książka/Rozdział

Badanie heterostruktur związków AIIIN zawierających warstwy ultracienkie

Wójcik Marek

2008

Tekst

Analiza rentgenowskiego widma periodycznej supersieci

Wójcik Marek

1988

Tekst

Analiza możliwości zastosowania wysokorozdzielczej dyfraktomaterii rentgenowskiej do badań parametrów strukturalnych warstw epitaksjalnych i supersieci

Sass Jerzy

1994

Tekst

Badanie odkształceń sieci krystalicznej w implantowanej warstwie epitaksjalnej GaN osadzonej metodą MOCVD na podłożu szafirowym o orientacji [001]

Wójcik Marek

2011

Tekst

Effect of RF magnetron sputtering conditions on microstructure and X-ray characteristics of yttria-stabilized zirconia thin films = Wpływ warunków sputeringu magnetronowego na mikrostrukturę i charakterystykę rentgenowską cienkich warstw dwutlenku cyrkonu stabilizowanego tlenkiem itru

Tomaszewski Henryk

1996

Tekst

Rentgenowska metoda określania profilu składu chemicznego w heterostrukturach GaN/InGaN otrzymywanych metodą MOCVD na podłożu szafirowym

Wójcik Marek

2012

Tekst

Więcej

Styl cytowania:

iso690-author-date apa modern-language-association chicago-author-date

Ta strona wykorzystuje pliki 'cookies'. Więcej informacji