RCIN and OZwRCIN projects

Object

Title: Wysokorezystywne wzorce do profilu rezystywności krzemowych warstw epitaksjalnych metodą oporności rozpływu w styku punktowym = High resistivity standards for measurement of resistivity profile in silicon epitaxial layers by spreading resistance method

Object collections:

Last modified:

Oct 2, 2020

In our library since:

Jul 8, 2014

Number of object content downloads / hits:

3580

All available object's versions:

https://rcin.org.pl/itme/publication/63373

Show description in RDF format:

RDF

Show description in RDFa format:

RDFa

Show description in OAI-PMH format:

OAI-PMH

Objects Similar

×

Citation

Citation style:

This page uses 'cookies'. More information