Język metadanych
Electronic Materials T 43 Nr 1 2015
Twórca: Współtwórca:Malinowska Agnieszka ; Wierzchowski Wojciech ; Kisielewski Jarosław ; Świrkowicz Marek ; Szyrski Włodzimierz ; Romaniec Magdalena ; Mazur Krystyna
Wydawca: Miejsce wydania: Data wydania/powstania: Opis:Bibliogr. p.: 38-39 ; p. 29-39 il., 30 cm.
Temat i słowa kluczowe:X-ray diffraction topography ; MgAl2O4 ; ScAlMgO4 ; crystal lattice defects ; Czochralski method
Bibliografia:38-39
Czasopismo/Seria/cykl:Electronic Materials T. 43 Nr 1 2015
Tom: Zeszyt: Strona pocz.: Strona końc.: Typ zasobu: Szczegółowy typ zasobu: Format: Źródło: Język: Prawa: Zasady wykorzystania:Copyright-protected material. May be used within the limits of statutory user freedoms
Digitalizacja:Institute of Electronic Materials Technology
Lokalizacja oryginału:Library of the Electronic Materials Technology Institute
Dofinansowane ze środków:Programme Innovative Economy, 2010-2014, Priority Axis 2. R&D infrastructure ; European Union. European Regional Development Fund
Dostęp: