Title:

Rentgenowska topografia dyfrakcyjna defektów sieci krystalicznej w monokryształach MgAl2O4 i ScAlMgO4 otrzymywanych w różnych warunkach technologicznych

Subtitle:

Materiały Elektroniczne T. 43 Nr 1

Creator:

Wierzbicka Edyta

Contributor:

Malinowska Agnieszka ; Wierzchowski Wojciech ; Kisielewski Jarosław ; Świrkowicz Marek ; Szyrski Włodzimierz ; Romaniec Magdalena ; Mazur Krystyna

Publisher:

ITME

Place of publishing:

Warszawa

Date issued/created:

2015

Description:

Bibliogr. s.: 38-39 ; s. 29-39 il., 30 cm.

Subject and Keywords:

topografia rentgenowska ; MgAl2O4 ; ScAlMgO4 ; crystal lattice defects ; Czochralski method

References:

38-39

Relation:

Materiały Elektroniczne T. 43 Nr 1 2015

Volume:

43

Issue:

1

Start page:

29

End page:

39

Resource type:

Tekst

Detailed Resource Type:

Artykuł

Format:

30 cm ; application/pdf

Source:

click here to follow the link

Language:

pol

Rights:

Prawa zastrzeżone - dostęp nieograniczony

Terms of use:

Zasób chroniony prawem autorskim. Korzystanie dozwolone w zakresie określonym przez przepisy o dozwolonym użytku.

Digitizing institution:

Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych

Original in:

Biblioteka Instytutu Technologii Materiałów Elektronicznych

Projects co-financed by:

Unia Europejska. Europejski Fundusz Rozwoju Regionalnego ; Program Operacyjny Innowacyjna Gospodarka, lata 2010-2014, Priorytet 2. Infrastruktura strefy B + R

Access:

Otwarty