How to search... Advanced search
RCIN and OZwRCIN projects

Object

Scanning electron microscope at low voltage operation - a unique characterization tool for graphene layers Iwona Jóźwik.

Download

Title: Scanning electron microscope at low voltage operation - a unique characterization tool for graphene layers Iwona Jóźwik.

Creator:

Jóźwik Iwona

Date issued/created:

2016

Resource type:

Text

Subtitle:

Skaningowy mikroskop elektronowy pracujący w zakresie niskich wartości napięcia przyspieszającego jako unikatowe narzędzie do charakteryzacji warstw grafenu

Contributor:

Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych. Wyd.

Publisher:

ITME

Place of publishing:

Warsaw

Description:

References: p.: 15-16 ; p.: 11-16, il. 30 cm.

References:

15-16

Relation:

Materiały Elektroniczne - Electronic Materials

Volume:

44

Issue:

2

Start page:

11

End page:

16

Detailed Resource Type:

Article

Format:

A4 ; application/pdf

Resource Identifier:

oai:rcin.org.pl:63366

Source:

click here to follow the link

Language:

eng

Language of abstract:

eng

Rights:

Rights Reserved - Free Access

Terms of use:

Copyright-protected material. May be used within the limits of statutory user freedoms

Digitizing institution:

Institute of Electronic Materials Technology

Original in:

Library of the Electronic Materials Technology Institute

Projects co-financed by:

European Union. European Regional Development Fund ; Programme Innovative Economy, 2010-2014, Priority Axis 2. R&D infrastructure

Access:

Open

Subject and keywords:

Graphene Graphene characterization Low-kV scanning electron microscopy

Object collections:

Last modified:

Mar 30, 2021

In our library since:

Oct 18, 2017

Number of object content downloads / hits:

208

All available object's versions:

https://rcin.org.pl/itme/publication/83005

Show description in RDF format:

RDF

Show description in RDFa format:

RDFa

Show description in OAI-PMH format:

OAI-PMH

Edition name Date
Jóźwik Iwona, Scanning electron microscope at low voltage operation - a unique characterization tool for graphene layers Mar 30, 2021

Objects Similar

Prezentacja głównego zakresu możliwosci obrazowania i analiza za pomoca mikroskopu Auriga Crossbeam Workstation firmy Carl Zeiss znajdującego się w Instytucie Technologii Materiałów Elektronicznych w Warszawie

Jóźwik, Iwona

2009
Text

Electrical properties of Ag-C and Cu-C contact materials

Pietrzak Katarzyna

2016
Text

Graphene obtained by electrolytic method on silicon carbide substrates

Stańczyk Beata

2014
Book/Chapter

Spektroskopia ramanowska grafenu = Raman spectroscopy of graphene

Grodecki Kacper

2013
Book/Chapter

Tlenek grafenu jako pasywny modulator dobroci w laserze na ceramice Nd:YAG = Graphene oxide as passively Q - swithed modulator for ceramic Nd:YAG laser

Podniesiński Dariusz

2013
Text

Evaluation of hydrophobic properties of organic layers modified with graphene flakes

Stańczyk Beata

2017
Book/Chapter

The influence of reducing agents on the reduced graphene oxide specific surface area determined on the basis of nitrogen adsorption isotherm / Tomasz Strachowski, Michał Woluntarski, Małgorzata Djas, Krystian Kowiorski, Zbigniew Wiliński, Magdalena Baran, Joanna Jagiełło, Magdalena Winkowska, Ludwika Lipińska.

Strachowski Tomasz

2017
Book/Chapter

Mechanika kruchego pękania ceramiki korundowej wzmocnionej płatkami grafenowymi = Fracture mechanics of graphene flake-reinforced alumina ceramics

Boniecki Marek

2013
Book/Chapter
More
×

Citation

Citation style:

Technical contact

Address

Institute of Electronic Materials Technology
ul. Wólczyńska 133
01-919 Warszawa, Poland

Financing:

Project I

Project "Digital Repository of Scientific Institutes" [RCIN] co-financed by Programme Innovative Economy, 2010-2014, Priority Axis 2. R&D infrastructure ; European Union. European Regional Development Fund.




Project II

Project "Open Resources in the Digital Repository of Scientific Institutes" [OZwRCIN] co-financed by Operational Program Digital Poland, 2014-2020, Measure 2.3: Digital accessibility and usefulness of public sector information; funds from the European Regional Development Fund and national co-financing from the state budget.





Partners funds

Works related to making new facilities available in the RCIN service are also co-financed by the Partners.

Partnership:

Website created by

INSTYTUT MATEMATYCZNY PAN ; INSTYTUT ARCHEOLOGII I ETNOLOGII POLSKIEJ AKADEMII NAUK ; INSTYTUT BADAŃ LITERACKICH POLSKIEJ AKADEMII NAUK ; INSTYTUT BADAŃ SYSTEMOWYCH PAN ; INSTYTUT BADAWCZY LEŚNICTWA ; INSTYTUT BIOLOGII DOŚWIADCZALNEJ IM. MARCELEGO NENCKIEGO POLSKIEJ AKADEMII NAUK ; INSTYTUT BIOLOGII SSAKÓW POLSKIEJ AKADEMII NAUK ; INSTYTUT BOTANIKI IM. WŁADYSŁAWA SZAFERA POLSKIEJ AKADEMII NAUK ; INSTYTUT CHEMII BIOORGANICZNEJ POLSKIEJ AKADEMII NAUK ; INSTYTUT CHEMII FIZYCZNEJ PAN ; INSTYTUT CHEMII ORGANICZNEJ PAN ; INSTYTUT DENDROLOGII POLSKIEJ AKADEMII NAUK ; INSTYTUT FILOZOFII I SOCJOLOGII PAN ; INSTYTUT GEOGRAFII I PRZESTRZENNEGO ZAGOSPODAROWANIA PAN ; INSTYTUT HISTORII im. TADEUSZA MANTEUFFLA POLSKIEJ AKADEMII NAUK ; INSTYTUT JĘZYKA POLSKIEGO POLSKIEJ AKADEMII NAUK ; INSTYTUT MEDYCYNY DOŚWIADCZALNEJ I KLINICZNEJ IM.MIROSŁAWA MOSSAKOWSKIEGO POLSKIEJ AKADEMII NAUK ; INSTYTUT OCHRONY PRZYRODY POLSKIEJ AKADEMII NAUK ; INSTYTUT PODSTAWOWYCH PROBLEMÓW TECHNIKI PAN ; INSTYTUT SLAWISTYKI PAN ; INSTYTUT SYSTEMATYKI I EWOLUCJI ZWIERZĄT POLSKIEJ AKADEMII NAUK ; MUZEUM I INSTYTUT ZOOLOGII POLSKIEJ AKADEMII NAUK ; SIEĆ BADAWCZA ŁUKASIEWICZ - INSTYTUT TECHNOLOGII MATERIAŁÓW ELEKTRONICZNYCH ; INSTYTUT HISTORII NAUKI IM. LUDWIKA I ALEKSANDRA BIRKENMAJERÓW POLSKIEJ AKADEMII NAUK ; INSTYTUT NAUK EKONOMICZNYCH POLSKIEJ AKADEMII NAUK ;

This page uses 'cookies'. More information