Title:

Scanning electron microscope at low voltage operation - a unique characterization tool for graphene layers

Subtitle:

Skaningowy mikroskop elektronowy pracujący w zakresie niskich wartości napięcia przyspieszającego jako unikatowe narzędzie do charakteryzacji warstw grafenu

Creator:

Jóźwik Iwona

Contributor:

Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych. Wyd.

Publisher:

ITME

Place of publishing:

Warszawa

Date issued/created:

2016

Description:

Bibliogr. s.: 15-16 ; s.: 11-16, il. 30 cm.

Subject and Keywords:

Graphene ; Graphene characterization ; Low-kV scanning electron microscopy ; Grafen ; Charakteryzacja grafenu ; Niskoenergetyczna skaningowa mikroskopia elektronowa

References:

15-16

Relation:

Materiały Elektroniczne

Volume:

44

Issue:

2

Start page:

11

End page:

16

Resource type:

Tekst

Detailed Resource Type:

Artykuł

Format:

A4 ; application/pdf

Source:

click here to follow the link

Language:

eng

Language of abstract:

eng

Rights:

Prawa zastrzeżone - dostęp nieograniczony

Terms of use:

Zasób chroniony prawem autorskim. Korzystanie dozwolone w zakresie określonym przez przepisy o dozwolonym użytku.

Digitizing institution:

Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych

Original in:

Biblioteka Instytutu Technologii Materiałów Elektronicznych

Projects co-financed by:

Unia Europejska. Europejski Fundusz Rozwoju Regionalnego ; Program Operacyjny Innowacyjna Gospodarka, lata 2010-2014, Priorytet 2. Infrastruktura strefy B + R

Access:

Otwarty