Title:

Investigation of oxide crystals by means of synchrotron and conventional X-raydiffraction topography Wojciech Wierzchowski, Agnieszka Malinowska, Krzysztof Wieteska, Edyta Wierzbicka, Krystyna Mazur, Maria Lefeld - Sosnowska, Marek Świrkowicz, Tadeusz Łukasiewicz.

Subtitle:

Badanie monokryształów tlenkowych za pomocą synchrotronowej i konwencjonalnej rentgenowskiej topografii dyfrakcyjnej

Creator:

Wierzchowski Wojciech

Contributor:

Malinowska Agnieszka ; Wieteska Krzysztof ; Wierzbicka Edyta ; Mazur Krystyna ; Lefeld - Sosnowska Maria ; Świrkowicz Marek ; Łukasiewicz Tadeusz

Publisher:

ITME

Place of publishing:

Warszawa

Date issued/created:

2016

Description:

Bibliogr. s.: 29 - 32 ; s.: 17 - 32 il., 30 cm.

Type of object:

Książka/Rozdział

Subject and Keywords:

dyfrakcyjna topografia dyfrakcyjna ; defekty sieci krystalicznej ; metoda Czochralskiego

References:

29-32

Relation:

Materiały Elektroniczne Vol. 44 No. 4 2016

Volume:

44

Issue:

4

Start page:

17

End page:

32

Resource type:

Tekst

Detailed Resource Type:

Artykuł

Format:

A4 ; application/pdf

Source:

click here to follow the link

Language:

eng

Language of abstract:

eng

Rights:

Prawa zastrzeżone - dostęp nieograniczony

Terms of use:

Zasób chroniony prawem autorskim. Korzystanie dozwolone w zakresie określonym przez przepisy o dozwolonym użytku.

Digitizing institution:

Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych

Original in:

Biblioteka Instytutu Technologii Materiałów Elektronicznych

Projects co-financed by:

Działalność upowszechniająca naukę (DUN) ; Ministra Nauki i Szkolnictwa Wyższego

Access:

Otwarty