Search for: [Subject and Keywords = Electronic \- journal \- materials] OR [Subject and Keywords = Electronic \- materials] OR [Subject and Keywords = InP] OR [Subject and Keywords = stechiometry] OR [Subject and Keywords = deep level] OR [Subject and Keywords = Elektronika \- czasopismo \- materiały] OR [Subject and Keywords = Materiały elektroniczne] OR [Subject and Keywords = stechiometria] OR [Subject and Keywords = poziom głęboki] OR [Subject and Keywords = InP] OR [Title = Stoichiometry control of compound semiconductor crystals. Part 2 = Kontrola stechiometrii kryształów związków półprzewodnikowych] OR [Title = Stoichiometry control of compound semiconductor crystals. Part 2 = Kontrola stechiometrii kryształów związków półprzewodnikowych] OR [Creator = Nishizawa Jun\-ichi] OR [Creator = Nishizawa Jun\-ichi]

Number of results: 918

Items per page:

add all to bibliography

of 37 Next

Estamacja ciśnień w reaktorze do syntezy InP metodą HGF na podstawie pomiaru rozkładu temperatury = Pressure estimation in quartz ampoule in during InP synthesis by HGF method, on the base temperature distribution measurement

Materna Andrzej

2006

Text

Monokryształy GaAs, InP i GaP dla elementów optyki w podczerwieni

Strzelecka, Stanisława

2006

Text

InP nanowires for photovoltaic applications

Dumiszewska Ewa

2015

Text

Elektryczne i optyczne metody charakteryzacji półizolacyjnych monokryształów fosforku indu domieszkowanych żelazem = Characterization of semi-insulating InP:Fe by electrical and optical measurements

Strzelecka Stanisława

1992

Text

Wytwarzanie heterostruktur InP/InGaAs metodą epitaksji z fazy gazowej z użyciem metaloorganiki (MOVPE) = InGaAs/InP heterostructures made using metalorganic vapor phase epitaxy

Jasik Agata

1998

Text

Azotek krzemu stosowany w technologii planarnych fotodiod wykonanych na bazie InP = Silicon nitride for InP based planar photodiode applications

Zynek Jadwiga

2008

Text

Niestacjonarna spektroskopia fotoprądowa o dużej rozdzielczości jako nowa metoda badania centrów defektowych w półprzewodnikach wysokorezystywnych. = High resolution photoinduced transient spectroscopy as a new characterization method of defect centres in high resistivity semiconductors

Kozłowski Roman

2001

Text

Stoichiometry control of compound semiconductor crystals. Part 1 =

Nishizawa Jun-ichi

1996

Text

Stoichiometry control of compound semiconductor crystals. Part 3 = Kontrola stechiometrii kryształów związków półprzewodnikowych. Cz. 3

Nishizawa Jun-ichi

1997

Text

Spis treści. Vol. 45 No. 2-4 [2017]

Materiały Elektroniczne

2017

Book/Chapter

Electronic Materials

2020

Book/Chapter

Spis treści. T.42 Nr 4 [2014]

2014

Book/Chapter

Spis treści 2013 T. 41 nr 4 = Contents 2013 T.41 nr 4

2013

Book/Chapter

Covering glass microspheres with Al2O3 or AlN by low-temperature atomic layer deposition / Rafał Stankiewicz, Anna PiDatkowska.

Stankiewicz, Rafał.

2018.

Book/Chapter

Vol. 46 No. 1-4 [2018]

Materiały Elektroniczne

2018.

Book/Chapter

Spis treści 1990 nr 3(71) = Content 1990 nr 3(71)

1990

Text

Spis treści 1990 nr 2(70) = Content 1990 nr 2(70)

1993

Text

Spis treści 1990 nr 1(69) = Contents 1990 nr 1(69)

1990

Text

Spis treści 1990 nr 4(72) = Contents

1990

Text

Spis treści 1989 nr 4(68) = Content 1989 nr 4(68)

1989

Text

Spis treści 1989 nr 3(67) = Content 1989 nr 3(67)

1989

Text

Spis treści 1989 nr 2(66) = Contents 1989 nr 2(66)

1989

Text

Spis treści 1985 nr 2(50) = Contents 1985 nr 2(50)

1985

Text

Spis treści 1985 nr 1(49) = Contents 1985 nr 1(49)

1985

Text

Spis treści 1986 nr 2(54) = Contents 1986 nr 2(54)

1986

Text

Filters

Number of results: 918

Technical contact

Address

Financing:

Project I

Project II

Partners funds

Partnership:

Website created by