Search for: [Subject and Keywords = Electronic \- journal \- materials] OR [Subject and Keywords = Electronic \- materials] OR [Subject and Keywords = stress\-induced birefringence] OR [Subject and Keywords = drawing process] OR [Subject and Keywords = hydrostatic extrusion process] OR [Subject and Keywords = Materiały elektroniczne] OR [Subject and Keywords = Elektronika \- czasopismo \- materiały] OR [Subject and Keywords = naprężenie] OR [Subject and Keywords = proces ciągnienia] OR [Subject and Keywords = hydrostatyczne wyciskanie drutu] OR [Title = Analiza stanów naprężeń w procesach ciągnienia i hydrostatycznego wyciskania drutu = An analysis of the state of stresses in drawing and hydrostatic extrusion processes] OR [Title = Analiza stanów naprężeń w procesach ciągnienia i hydrostatycznego wyciskania drutu] OR [Creator = Erbel Stanisław] OR [Creator = Erbel Stanisław]

Number of results: 917

Items per page:

add all to bibliography

of 37 Next

Fotometryczna metoda pomiaru naprężeń w materiałach półprzewodnikowych = Intensity method for stress measurement of semiconductors

Bajor Andrzej

1985

Text

Zastosowanie metody Muellera do analizy zjawiska dwójłomności wymuszonej mechanicznie w materiałach półprzewodnikowych = Application of the Mueller calculus for the analysis of stress-induced birefingence in semiconductors

Bajor Andrzej

1988

Text

Zastosowanie formuły Robertsona do wyznaczania wielkości naprężeń w materiałach półprzewodnikowych = The use of Robertson's formula for the evaluation of stress in semiconductor materials

Bajor Andrzej

1987

Text

Układ polaryskopu optycznego do bdań naprężeń w materiałach półprzewodnikowych = Plane polariscope for photoelastic measurement of semiconductors

Adamkiewicz, Grażyna

1985

Text

Teoretyczna i doświadczalna analiza naprężeń cieplnych i resztkowych w wybranych kryształach tlenkowych = Theoretical and experimental analysis of thermal and residual stresses in some oxide single crystals

Gałązka Zbigniew

1998

Text

Prognozowanie trwałości tworzyw ceramicznych poddanych cyklicznym naprężeniom termicznym = Life forecasting of ceramic materials

Boniecki Marek

1992

Text

Symetria odkształceń sieci monokryształów o orientacji <111> otrzymanych metodą Czochralskiego = Symmetry of strain in <111> oriented Czochralski-grown crystals

Adamkiewicz Grażyna

1987

Text

Potencjalne możliwości zastosowań polaryskopu liniowego do badań naprężeń i defektów strukturalnych w materiałach półprzewodnikowych = Potentialities of the plane polariscope for studing of residual stress and crystallographic defects in semiconductors

Adamkiewicz Grażyna

1988

Text

Rozkład naprężeń wewnętrznych w mikrowarstwowych kompozytach ceramicznych = Effect of residual stresses in layered ceramic microcomposites on crack propagation during fracture

Tomaszewski Henryk

1998

Text

Badanie naprężeń w krzemie otrzymanym metodą Czochralskiego = Studies of residual stress in Czochralski-grown crystals

Adamkiewicz Grażyna

1986

Text

Możliwości modyfikacji charakterystyk promieniowania laserów półprzewodnikowych przez superpozycję naprężeń w warstwie aktywnej = On the possibility of modification of semiconductor laser emission characteristics by strain superposition in active region

Maląg Andrzej

2002

Text

Wpływ przestrzennego rozkładu temperatury podczas krystalizacji metodą Czochralskiego na wielkość naprężeń w wybranych kryształach tlenkowych . Praca doktorska = Influence of spatial temperature distribution on the value of stress in Czochralski grown some oxide crystals

Gałązka Zbigniew

1997

Book/Chapter

Rola mikrostruktury i wewnętrznych naprężeń cieplnych w zwiększeniu odporności na pękanie ceramiki na bazie Al2O3 = The role of microstructure and of internal thermal stresses in the toughening of Al2O3 based ceramics

Boniecki Marek

1991

Text

Naprężenia własne termiczne w spajanych elementach ceramiki AIN z miedzią = Thermal residual stresses in joined elements of AIN ceramics to copper

Kaliński Dariusz

2000

Text

Spis treści. Vol. 45 No. 2-4 [2017]

Materiały Elektroniczne

2017

Book/Chapter

Electronic Materials

2020

Book/Chapter

Spis treści. T.42 Nr 4 [2014]

2014

Book/Chapter

Spis treści 2013 T. 41 nr 4 = Contents 2013 T.41 nr 4

2013

Book/Chapter

Covering glass microspheres with Al2O3 or AlN by low-temperature atomic layer deposition / Rafał Stankiewicz, Anna PiDatkowska.

Stankiewicz, Rafał.

2018.

Book/Chapter

Vol. 46 No. 1-4 [2018]

Materiały Elektroniczne

2018.

Book/Chapter

Spis treści 1990 nr 3(71) = Content 1990 nr 3(71)

1990

Text

Spis treści 1990 nr 2(70) = Content 1990 nr 2(70)

1993

Text

Spis treści 1990 nr 1(69) = Contents 1990 nr 1(69)

1990

Text

Spis treści 1990 nr 4(72) = Contents

1990

Text

Spis treści 1989 nr 4(68) = Content 1989 nr 4(68)

1989

Text

Filters

Number of results: 917

Technical contact

Address

Financing:

Project I

Project II

Partners funds

Partnership:

Website created by