Search for: [Subject and Keywords = Electronic \- journal \- materials] OR [Subject and Keywords = Electronic \- materials] OR [Subject and Keywords = GaAs] OR [Subject and Keywords = heteroepitaxy] OR [Subject and Keywords = SEM] OR [Subject and Keywords = TEM] OR [Subject and Keywords = Elektronika \- czasopismo \- materiały] OR [Subject and Keywords = Materiały elektroniczne] OR [Subject and Keywords = GaAs] OR [Subject and Keywords = warstwa heteroepitaksjalna] OR [Subject and Keywords = mikroskopia elektronowa] OR [Title = Badania heteroepitaksjalnych warstw GaAs1\-xPx\/GaAs za pomocą skaningowej i prześwietleniowej mikroskopii elektronowej = Investigation of heteroepitaxial layers of GaAs1\-x Px\/GaAs by means of scanning and transmission electron microscopy] OR [Title = Badania heteroepitaksjalnych warstw GaAs1\-xPx\/GaAs za pomocą skaningowej i prześwietleniowej mikroskopii elektronowej] OR [Creator = Drabik Wojciech] OR [Creator = Drabik Wojciech]

Number of results: 920

Items per page:

add all to bibliography

Prev of 37 Next

Udział pracowników ITME w konferencjach 1995 T.23 nr 3

Udział pracowników ITME w konferencjach /

1995

Text

Wpływ obecności Fe i Ni na własności krzemowych warstw epitaksjalnych = Influence of Ni and Fe on silicon epitaxial layers properties

Nossarzewska-Orłowska, Elżbieta

1994

Text

Wpływ zawartości tlenu w atmosferze spiekania na przemianę C-T niestabilizowanych ziaren dwutlenku cyrkonu rozproszonych w korundowej matrycy. Cz. 1 = Oxygen vacancy concentration - phase composition of circonia dispersed in alumina matrix

Tomaszewski Henryk

1994

Text

Joining of carbon fibre - copper composite to metals

Pietrzak Katarzyna

1993

Text

Wpływ rodzaju atmosfery spiekania warstw metalicznych na wytrzymałość złączy ceramika-metal = The effect of furnace atmosphere composition of the metallizing layer on the strengths of ceramic-metal joints

Muszkat Wacław

1989

Text

Zastosowanie metody betaskopowej do wyznaczania grubości warstw metalizacyjnych na podłożu ceramicznym = The application of radioactive method to thickness measurement of metalizing films on ceramic substrates

Pierzchała-Chylińska, Maria

1975

Text

Wpływ kwasów i zasad na stabilność zawiesin proszku tlenku glinu w izopropanolu = Influence of Acids and baises on stability of alumina powder suspensions in isopropanol

Loiko Edouard M.

2003

Text

Zastosowanie komparatora termicznego do badania przewodnictwa cieplnego podłożowych płytek ceramicznych = Thermal comparator application for the investigation of thermal conductivity in ceramic substrates

Boniecki Marek

1974

Text

Wzrost i właściwości scyntylacyjne monokryształów LuAlO3 = Growth and scintillation properties of LuAlO3 crystals

Gałązka Z.

2002

Text

Otrzymywanie warstw SiCN metoda RF sputteringu = SiCN films deposited by RF magnetron sputtering

Stańczyk Beata

2011

Text

Badania nad wpływem rozkładu uziarnienia proszku Al2O3 na gęstość wyrobów ceramicznych = The impact of grains distribution on ceramic products density

Morawski Jerzy

1975

Text

Spiekanie pod ciśnieniem proszków Al2O3 = Pressure sintering of Al2O3 powders

Jakowlew Bolesław

1975

Text

Wady krystalograficzne i przebicia mikroplazmowe w epitaksjalnych złączach p-n = Structural defects and microplasma breakdowns in epitaxial p-n layers

Magden I.N

1975

Text

Badanie dyslokacji w krzemie i w krzemowych warstwach epitaksjalnych za pomocą rentgenowskiej topografii odbiciowej metodą Berga-Barretta = The investigation of dislocations in Si and in epitaxial Si layers by Berg-Barret x-ray reflection topography

Wierzchowski Wojciech

1975

Text

Zastosowanie metody mikroanalizy rentgenowskiej do badania składu chemicznego warstw epitaksjalnych związków potrójnych grupy AIIIBV na przykładzie GA1-xAlxAs = X-ray microanalysis application for the investigation of epitaxial layer chemical composition of AIIIBV group triple compounds with the Ga1-x\alx\as as a representative of this group

Kozłowska Halina

1974

Text

Przegląd własności fizykochemicznych i technologii otrzymywania trójtlenku boru do celów półprzewodnikowych = Physical and chemical properties and the production methods of boron oxide for semiconductors - a review

Rećko Wacław

1975

Text

Formy do niskociśnieniowego prasowania przetłocznego = Moulds for low pressure transfer moulding

Nowacki Janusz

1974

Text

Spektrograficzna analiza tlenku glinu do produkcji ceramiki wysokoalundowej = Spectrographic analysis of aluminum oxide for production of high alumina content ceramics

Sokołowska Wanda

1974

Text

Evaluation of electrical properties of Eu and Pd-doped titanium dioxide thin films deposited on silicon = Badanie właściwości elektrycznych cienkich warstw TiO2 domieszkowanych Eu i Pd naniesionych na podłoża krzemowe

Prociow Eugeniusz L.

2008

Text

Zastosowanie metody Muellera do analizy zjawiska dwójłomności wymuszonej mechanicznie w materiałach półprzewodnikowych = Application of the Mueller calculus for the analysis of stress-induced birefingence in semiconductors

Bajor Andrzej

1988

Text

Spis treści 1976 nr 3(15) = Contents 1976 nr 3(15)

1976

Text

Właściwości mechaniczne przeświecalnego spinelu MgAl2O4 = Mechanical properties of translucent MgAl2O4 spinel

Boniecki Marek

2012

Text

Spis treści 2013 T.41 nr 3 = Contents 2013 T.41 nr 3

2013

Text

Spis treści. T. 43 Nr 4 [2015]

Materiały Elektroniczne

2015

Book/Chapter

Spis treści. T. 43 Nr 3 [2015]

Materiały Elektroniczne

2015

Text

Filters

Number of results: 920

Technical contact

Address

Financing:

Project I

Project II

Partners funds

Partnership:

Website created by