Institute of Electronic Materials Technology

Resource type
- Text (65)
Collections
- ITME works (65)
File type
- application/pdf (65)
Content format
- PDF (65)
Object availability
- Available (65)
Date issued/created A date associated with an event in the life cycle of the resource
Access
- Open (65)

Skip to main menu
Skip to search engine
Skip to content
Skip to footer

Items per page:

add all to bibliography

of 3 Next

Nowe technologie wytwarzania złożonych struktur półprzewodnikowych = Novel technologies of manufacturing of semiconductor structures

Bugajski Maciej

1990

Text

Badanie doskonałości struktury monokryształów GaAs o obniżonej gęstości dyslokacji = The investigation of low dislocation GaAs single crystals perfection

Pawłowska Marta

1990

Text

Wpływ dodatku fosforu na niektóre własności fizykochemiczne i lutowwnicze eutektycznego stopu SnPb = The influence of phosphorus additive on chemical and physical properties and solderability of fin-lea eutectic alloy

Tomasik Edmund

1982

Text

Metody pomiaru parametrów aplikacyjnych past i warstw grubych. Cz. II = Measuring methods of application parameters of pastes and thick layers. Part II

Szymański Dariusz

1982

Text

Metody pomiaru parametrów aplikacyjnych past i warstw grubych. Cz. I = Measuring methods of application parameters of pastes and thick layers. Part I

Szymański Dariusz

1982

Text

Uniwersalny segregator do podziału na pięć grup dowolnych wielkości zmienionych na sygnał napięciowy = Universal sortes for distribution of voltages of groups of arbitury quantities unverted into a voltage signal

Kędra Jerzy

1979

Text

Interface typu IDV-4 do współpracy woltomierza V-530 z drukarką VA-G-24A = Interface IDV-4 for cooperation voltmeter V-530 with printer VA-G-24A

Kędra Jerzy

1979

Text

Zestaw zbiorczej cyfrowej rejestracji temperatury CRT-1 = Digital CRT-1 system of collective temperature recording

Kędra Jerzy

1979

Text

Automatyczny zestaw pomiarowy dla określania oporności właściwej metodą rozpływu oporności = Automatic measuring system for resistance determining by the spreading resistance method

Cybulski Piotr

1979

Text

Urządzenie adaptujące wyniki pomiaru Halla do rejestratora X - Y = Device enduring the presentation of results of Hall parameters measurements using an X-Y recorder

Matusewicz Stefan

1979

Text

Problemy automatyzacji czynności pomiarowych w badaniach i technologiach występujących na terenie CNPME = Some aspects of automation of measurement in research and technologies during in the CNPMP = Some aspects of automation of measurements in research and technologies during in the CNPME

Cybulski Piotr

1979

Text

Metody pomiaru elektryzacji statycznej folii z tworzyw sztucznych = The methods of measuring of static electrization of plastic films

Cendrowski Sławomir

1980

Text

Inżynieria Materiałów Elektronicznych. II Seminarium zorganizowane pod patronatem KBN 16 grudnia 1997 roku

1997

Text

Wzrost i Charakteryzacja Kryształów Objętościowych. Sympozjum Poznań, 25.04-26.04.2002 = Crystal growth and characterization.

2002

Text

Nowe Materiały, Technologie, Mikrosystemy, a 5.Ramowy Program Badań, Rozwoju Technicznego i Prezentacji Unii Europejskiej (1998-2002), 8-10 grudnia 1999 r. = New materials, technologies, microsystems, a 5 Framework Program of esearch of technological development and presentation of the European Union

2000

Text

Sprawozdanie z działalności Instytutu Technologii Materiałów Elektronicznych w roku 1998 = Activity Report of ITME in 1998

1999

Text

Opracowanie spoiwa kompozytowego do spajania ceramiki korundowej z metalami = Studies of composite brazing material for alumina ceramic to metal joining

Kaliński, Dariusz

1999

Text

Wzrost i Charakterystyka Kryształów. Sympozjum Naukowe, 6-7 kwiatnia 2000 r., Katowice, Polska. Materiały = Crystal Growth and Characterization

2000

Text

Rentgenodyfrakcyjna analiza odkształceń koherentnych w półprzewodnikowych strukturach warstwach AIIIBV = X-Ray difraction analysis of the coherency strain in semiconductor AIIIBV layer structures

Sass Jerzy

2000

Text

Spajanie ceramiki z metalami = Bonding of ceramics with metals

Olesińska Wiesława

2008

Text

Defekty wzrostowe w kryształach granatu gadolinowo-galowego = Growth defects in single crystals of gadolinium gallium garnet

Naumowicz Piotr

1984

Text

Analiza własności mechanicznych materiałów ceramicznych metodami mechaniki pękania = Fracture mechanics analysis of mechanical properties of ceramic materials

Boniecki Marek

1984

Text

Syntezy wysokociśnieniowe kryształów o strukturze typu diamentu i ich struiktura atomowa w świetle badań rentgenowskich = High pressure synthesis of diamond type structure phase and their atomic structure

Badzian Andrzej

1984

Text

Odwzorowywanie dyslokacji w krzemowych warstwach epitaksjalnych metodami odbiciowymi rentgenowskiej topografii dyfrakcyjnej = The images of dislocations in silocon epitaxial layers obtained with help of X-ray diffraction topographic methods

Wierzchowski Wojciech

1984

Text

Fotometryczna metoda pomiaru naprężeń w materiałach półprzewodnikowych = Intensity method for stress measurement of semiconductors

Bajor Andrzej

1985

Text

1
2
of
3

This page uses 'cookies'. More information