Metadata language
Materiały Elektroniczne 2008 T.36 nr 3
Twórca: Wydawca: Miejsce wydania: Data wydania/powstania: Opis:Bibliogr. s. 22 ; 5-22 s. : il. 24 cm.
Temat i słowa kluczowe:Electronic - journal - materials ; Electronic - materials ; Si wafer ; X-ray reflectrometry
Czasopismo/Seria/cykl: Tom: Zeszyt: Strona pocz.: Strona końc.: Typ zasobu: Szczegółowy typ zasobu: Format: Źródło:ITME, sygn. dostępny ; click here to follow the link
Język: Prawa: Zasady wykorzystania:Copyright-protected material. May be used within the limits of statutory user freedoms
Digitalizacja:Institute of Electronic Materials Technology
Lokalizacja oryginału:Library of the Electronic Materials Technology Institute
Dofinansowane ze środków:Programme Innovative Economy, 2010-2014, Priority Axis 2. R&D infrastructure ; European Union. European Regional Development Fund
Dostęp: