Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych

Stan i perspektywy rozwoju metalurgii proszków

Ciszewski Bohdan

1990

Tekst

Polikrystaliczne spieki diamentowe

Badzian Andrzej

1985

Tekst

Defekty struktury w kryształach ADP (NH4H2PO4)

Wieteska Krzysztof

1978

Tekst

Pomiar rozkładu fosforu w warstwach epitaksjalnych GaAs1-xPx w oparciu o efekt fotowoltaiczny

Roszkiewicz Krzysztof

1981

Tekst

Przegląd własności fizykochemicznych i technologii otrzymywania trójtlenku boru do celów półprzewodnikowych

Rećko Wacław

1975

Tekst

Przemysłowe urządzenie do otrzymywania drobnoziarnistych proszków spoiw miękkich metodą rozpylania ciekłego metalu

Bziawa Kornel

1982

Tekst

Polarograficzne oznaczanie miedzi i ołowiu w metalicznym antymonie

Dramińska Wiesława

1983

Tekst

Zastosowanie metody błękitu krzemomolibdenowego do spektrofotometrycznego oznaczania śladowych ilości krzemu w węglanie litu i pięciotlenku niobu

Waśkiewicz Lidia

1991

Tekst

Indukcyjna plazma mikrofalowa (MIP) jako źródło wzbudzenia w spektroskopii emisyjnej. Model spektrometru

Ramsza Andrzej P.

1985

Tekst

Epitaksja krzemu. Kierunki rozwoju

Nossarzewska-Orłowska Elżbieta

1984

Tekst

Amorphous chalcogenide semiconductors for solid state dosimetric systems of high-energetic ionizing radiation

Shpotyuk Oleg

1997

Tekst

Charakteryzacja porównawcza podstawowych materiałów AIIIBV dla potrzeb epitaksji

Jasik Agata

1997

Tekst

Niektóre problemy związane z jakością materiału wyjściowego w technologii krzemowych przyrządów półprzewodnikowych

Pietras Edward

1975

Tekst

Problemy automatyzacji czynności pomiarowych w badaniach i technologiach występujących na terenie CNPME Piotr Cybulski, Tadeusz Żero.

Cybulski Piotr

1979

Tekst

Wpływ cząstek wody w B2O3 na właściwości niekomieszkowanych monokryształów InAs otrzymywanych metodą Czochralskiego

Orłowski Wacław

2009

Tekst

Zastosowanie implantacji jonów do modyfikacji właściwości technicznej warstwy wierzchniej metali

Rosiński Witold

1995

Tekst

Nadprzewodniki. Własności i technologia

Hozer Leszek

1989

Tekst

Filtry

Szukana fraza: [Opis = "Bibliogr. s. 21"]

Wyników: 17

Stan i perspektywy rozwoju metalurgii proszków

Polikrystaliczne spieki diamentowe

Defekty struktury w kryształach ADP (NH4H2PO4)

Pomiar rozkładu fosforu w warstwach epitaksjalnych GaAs1-xPx w oparciu o efekt fotowoltaiczny

Przegląd własności fizykochemicznych i technologii otrzymywania trójtlenku boru do celów półprzewodnikowych

Przemysłowe urządzenie do otrzymywania drobnoziarnistych proszków spoiw miękkich metodą rozpylania ciekłego metalu

Polarograficzne oznaczanie miedzi i ołowiu w metalicznym antymonie

Zastosowanie metody błękitu krzemomolibdenowego do spektrofotometrycznego oznaczania śladowych ilości krzemu w węglanie litu i pięciotlenku niobu

Indukcyjna plazma mikrofalowa (MIP) jako źródło wzbudzenia w spektroskopii emisyjnej. Model spektrometru

Epitaksja krzemu. Kierunki rozwoju

Amorphous chalcogenide semiconductors for solid state dosimetric systems of high-energetic ionizing radiation

Charakteryzacja porównawcza podstawowych materiałów AIIIBV dla potrzeb epitaksji

Niektóre problemy związane z jakością materiału wyjściowego w technologii krzemowych przyrządów półprzewodnikowych

Problemy automatyzacji czynności pomiarowych w badaniach i technologiach występujących na terenie CNPME Piotr Cybulski, Tadeusz Żero.

Wpływ cząstek wody w B2O3 na właściwości niekomieszkowanych monokryształów InAs otrzymywanych metodą Czochralskiego

Zastosowanie implantacji jonów do modyfikacji właściwości technicznej warstwy wierzchniej metali

Nadprzewodniki. Własności i technologia

Kontakt techniczny

Adres

Mapa strony

Strona główna

Kolekcje

Indeksy

O repozytorium

Konto użytkownika

Historia przeglądania

Finansowanie:

Projekt I

Projekt II

Środki partnerów

Partnerstwo:

Serwis tworzony przez