Zastosowanie statystycznych metod planowania doświadczeń ekstremalnych w spektralnej analizie emisyjnej - Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych

Przejdź do menu głównego
Przejdź do wyszukiwarki
Przejdź do treści
Przejdź do stopki

Zastosowanie statystycznych metod planowania doświadczeń ekstremalnych w spektralnej analizie emisyjnej

Pobierz

Tytuł: Zastosowanie statystycznych metod planowania doświadczeń ekstremalnych w spektralnej analizie emisyjnej

Twórca:

Sokołowska Wanda

Data wydania/powstania:

Typ zasobu:

Inny tytuł:

Materiały Elektroniczne 1978 nr4(24)

Wydawca:

Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"

Miejsce wydania:

Opis:

Bibliogr. s. [20] ; s. 7-[20] : il. ; 24 cm

Czasopismo/Seria/cykl:

Materiały Elektoniczne

Tom:

Zeszyt:

Strona pocz.:

Strona końc.:

Szczegółowy typ zasobu:

Format:

application/pdf

Identyfikator zasobu:

oai:rcin.org.pl:26976

Źródło:

ITME, sygn. dostępny ; kliknij tutaj, żeby przejść

Język:

Prawa:

Prawa zastrzeżone - dostęp nieograniczony

Zasady wykorzystania:

Zasób chroniony prawem autorskim. Korzystanie dozwolone w zakresie określonym przez przepisy o dozwolonym użytku.

Digitalizacja:

Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych

Lokalizacja oryginału:

Biblioteka Instytutu Technologii Materiałów Elektronicznych

Dofinansowane ze środków:

Program Operacyjny Innowacyjna Gospodarka, lata 2010-2014, Priorytet 2. Infrastruktura strefy B + R ; Unia Europejska. Europejski Fundusz Rozwoju Regionalnego

Dostęp:

Temat i słowa kluczowe:

Elektronika - czasopismo - materialy Materiały elektroniczne metoda statystyczna spektralna analiza emisyjna

Kolekcje, do których przypisany jest obiekt:

Sieć Badawcza Łukasiewicz – Instytut Mikroelektroniki i Fotoniki > Materiały Elektroniczne

Data ostatniej modyfikacji:

2 paź 2020

Data dodania obiektu:

15 kwi 2013

Liczba pobrań / odtworzeń:

12232

Wszystkie dostępne wersje tego obiektu:

https://rcin.org.pl/itme/publication/44597

Wyświetl opis w formacie RDF:

Wyświetl opis w formacie RDFa:

Wyświetl opis w formacie OAI-PMH:

MATERIAŁY ELEKTRONICZNE

Nazwa wydania	Data
Sokołowska Wanda, Zastosowanie statystycznych metod planowania doświadczeń ekstremalnych w spektralnej analizie emisyjnej	2 paź 2020

Obiekty Podobne

Badania nad podwyższeniem wykrywalności pierwiastków w spektralnej analizie emisyjnej

Sokołowska Wanda

1984

Tekst

Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych (ITME) - wczoraj i dziś. Laboratorium Charakteryzacji Materiałów Wysokiej Czystości

Sokołowska Wanda

2010

Tekst

Spektrograficzna metoda oznaczania zanieczyszczeń metalicznych w tellurze o wysokiej czystości

Sokołowska Wanda

1974

Tekst

Diody LED - odpady niebezpieczne dla środowiska

Sokołowska Wanda

2011

Tekst

Spektrograficzna metoda oznaczania zanieczyszczeń metalicznych w niobianie litu

Sokołowska Wanda

1982

Tekst

Spektrograficzna analiza tlenku glinu do produkcji ceramiki wysokoalundowej

Sokołowska Wanda

1974

Tekst

Opracowanie wzorców używanych przy określeniu czystości materiałów elektronicznych metodami spektroskopowymi

Sokołowska Wanda

1992

Tekst

Indukcyjna plazma mikrofalowa (MIP) jako źródło wzbudzenia w spektroskopii emisyjnej. Model spektrometru

Ramsza Andrzej P.

1985

Tekst

Więcej

Styl cytowania:

iso690-author-date apa modern-language-association chicago-author-date

Ta strona wykorzystuje pliki 'cookies'. Więcej informacji