Tytuł:

Investigation of oxide crystals by means of synchrotron and conventional X-raydiffraction topography Wojciech Wierzchowski, Agnieszka Malinowska, Krzysztof Wieteska, Edyta Wierzbicka, Krystyna Mazur, Maria Lefeld - Sosnowska, Marek Świrkowicz, Tadeusz Łukasiewicz.

Inny tytuł:

Badanie monokryształów tlenkowych za pomocą synchrotronowej i konwencjonalnej rentgenowskiej topografii dyfrakcyjnej

Twórca:

Wierzchowski Wojciech

Współtwórca:

Malinowska Agnieszka ; Wieteska Krzysztof ; Wierzbicka Edyta ; Mazur Krystyna ; Lefeld - Sosnowska Maria ; Świrkowicz Marek ; Łukasiewicz Tadeusz

Wydawca:

ITME

Miejsce wydania:

Warszawa

Data wydania/powstania:

2016

Opis:

Bibliogr. s.: 29 - 32 ; s.: 17 - 32 il., 30 cm.

Typ obiektu:

Książka/Rozdział

Temat i słowa kluczowe:

dyfrakcyjna topografia dyfrakcyjna ; defekty sieci krystalicznej ; metoda Czochralskiego

Bibliografia:

29-32

Czasopismo/Seria/cykl:

Materiały Elektroniczne Vol. 44 No. 4 2016

Tom:

44

Zeszyt:

4

Strona pocz.:

17

Strona końc.:

32

Typ zasobu:

Tekst

Szczegółowy typ zasobu:

Artykuł

Format:

A4 ; application/pdf

Źródło:

kliknij tutaj, żeby przejść

Język:

eng

Język streszczenia:

eng

Prawa:

Prawa zastrzeżone - dostęp nieograniczony

Zasady wykorzystania:

Zasób chroniony prawem autorskim. Korzystanie dozwolone w zakresie określonym przez przepisy o dozwolonym użytku.

Digitalizacja:

Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych

Lokalizacja oryginału:

Biblioteka Instytutu Technologii Materiałów Elektronicznych

Dofinansowane ze środków:

Działalność upowszechniająca naukę (DUN) ; Ministra Nauki i Szkolnictwa Wyższego

Dostęp:

Otwarty