Search for: [Subject and Keywords = Electronic \- journal \- materials] OR [Subject and Keywords = Electronic \- materials] OR [Subject and Keywords = bismuth refining] OR [Subject and Keywords = zonal melting] OR [Subject and Keywords = Materiały elektroniczne] OR [Subject and Keywords = Elektronika \- czasopismo \- materiały] OR [Subject and Keywords = oczyszczanie bizmutu] OR [Subject and Keywords = topienie strefowe] OR [Title = Oczyszczanie bizmutu metodą topienia strefowego = Refining bismuth by sonal melting method] OR [Title = Oczyszczanie bizmutu metodą topienia strefowego] OR [Creator = Kusowski M.] OR [Creator = Kusowski Mieczysław]

Number of results: 917

Items per page:

add all to bibliography

Prev of 37 Next

Otrzymywanie warstw SiCN metoda RF sputteringu = SiCN films deposited by RF magnetron sputtering

Stańczyk Beata

2011

Text

Ocena stopnia zdefektowania warstwy ładunku przestrzennego dyfuzyjnych złącz p-n w arsenku galu = The evaluation of space charge layer defects in gallium arsenide diffusion p-n junctions

Pietras Edward

1975

Text

Badania nad wpływem rozkładu uziarnienia proszku Al2O3 na gęstość wyrobów ceramicznych = The impact of grains distribution on ceramic products density

Morawski Jerzy

1975

Text

Spiekanie pod ciśnieniem proszków Al2O3 = Pressure sintering of Al2O3 powders

Jakowlew Bolesław

1975

Text

Wady krystalograficzne i przebicia mikroplazmowe w epitaksjalnych złączach p-n = Structural defects and microplasma breakdowns in epitaxial p-n layers

Magden I.N

1975

Text

Badanie dyslokacji w krzemie i w krzemowych warstwach epitaksjalnych za pomocą rentgenowskiej topografii odbiciowej metodą Berga-Barretta = The investigation of dislocations in Si and in epitaxial Si layers by Berg-Barret x-ray reflection topography

Wierzchowski Wojciech

1975

Text

Zastosowanie metody mikroanalizy rentgenowskiej do badania składu chemicznego warstw epitaksjalnych związków potrójnych grupy AIIIBV na przykładzie GA1-xAlxAs = X-ray microanalysis application for the investigation of epitaxial layer chemical composition of AIIIBV group triple compounds with the Ga1-x\alx\as as a representative of this group

Kozłowska Halina

1974

Text

Przegląd własności fizykochemicznych i technologii otrzymywania trójtlenku boru do celów półprzewodnikowych = Physical and chemical properties and the production methods of boron oxide for semiconductors - a review

Rećko Wacław

1975

Text

Warstwy epitaksjalne GaAs1-xPx dla przyrządów świecących = GaAs1-xPx epitaxial layers for lighting diodes

Brzozowski Waldemar

1974

Text

Formy do niskociśnieniowego prasowania przetłocznego = Moulds for low pressure transfer moulding

Nowacki Janusz

1974

Text

Spektrograficzna analiza tlenku glinu do produkcji ceramiki wysokoalundowej = Spectrographic analysis of aluminum oxide for production of high alumina content ceramics

Sokołowska Wanda

1974

Text

Evaluation of electrical properties of Eu and Pd-doped titanium dioxide thin films deposited on silicon = Badanie właściwości elektrycznych cienkich warstw TiO2 domieszkowanych Eu i Pd naniesionych na podłoża krzemowe

Prociow Eugeniusz L.

2008

Text

Zastosowanie metody Muellera do analizy zjawiska dwójłomności wymuszonej mechanicznie w materiałach półprzewodnikowych = Application of the Mueller calculus for the analysis of stress-induced birefingence in semiconductors

Bajor Andrzej

1988

Text

Spis treści 1976 nr 3(15) = Contents 1976 nr 3(15)

1976

Text

Właściwości mechaniczne przeświecalnego spinelu MgAl2O4 = Mechanical properties of translucent MgAl2O4 spinel

Boniecki Marek

2012

Text

Spis treści 2013 T.41 nr 3 = Contents 2013 T.41 nr 3

2013

Text

Spis treści. T. 43 Nr 4 [2015]

Materiały Elektroniczne

2015

Book/Chapter

Spis treści. T. 43 Nr 3 [2015]

Materiały Elektroniczne

2015

Text

MMIC'S on gallium arsenide developed in the Institute of Electronic Materials Technology

Dobrzański Lech

1992

Text

Badania nad otrzymywaniem tytanianów metali dwuwartościowych w postaci proszków ceramicznych o wysokiej czystości idyspersji = Investigations of obtaining of bivalent metals titanates in the form of high purity and dispersion ceramic powders

Puff Z.

1992

Text

Characterization of epitaxial silicon for MOS VLSI IC by deep level transsient spectroscopy and minority carrier lifetime measurements =

Nossarzewska-Orłowska Elżbieta

1992

Text

Metody charakteryzacji półizolacyjnych monokryształów GaAs = Methods of semi-insulating GaAs monocrystals characterisation

Strzelecka Stanisława

1992

Text

Metalowy szablon o zróżnicowanej grubości technologii montażu powierzchniowego = Metal "Step Stencil" with differentiated thickness for printing solder paste in surface mounting technology (SMT)

Cendrowski Sławomir

1997

Text

Wytrzymałość mechaniczna i temperaturowa kołowo-symetrycznych warstwowych złączy ceramiczno-metalowych = The mechanical and thermal strength of circular-symmetric multilayer vferamic-metal joints

Kujawa Ewa

1992

Text

Spis treści. T.43 Nr 2 [2015]

Electronic Materials

2015

Text

Filters

Number of results: 917

Technical contact

Address

Financing:

Project I

Project II

Partners funds

Partnership:

Website created by