Filters
How to search... Advanced search
RCIN and OZwRCIN projects

Search for: [Subject and Keywords = Electronic \- journal \- material] OR [Subject and Keywords = Electronic \- materials] OR [Subject and Keywords = gas chromatography] OR [Subject and Keywords = gaseous HCl] OR [Subject and Keywords = O2] OR [Subject and Keywords = H2O] OR [Subject and Keywords = Elektronika \- czasopismo \- materiały] OR [Subject and Keywords = Materiały elektroniczne] OR [Subject and Keywords = chromatografia gazowa] OR [Subject and Keywords = H2O] OR [Subject and Keywords = gazowy HCl] OR [Title = Oznaczanie tlenu i pary wodnej w gazowym chlorowodorze = Oxygen water vapour determination in gaseous hydrogen chloride] OR [Title = Oznaczanie tlenu i pary wodnej w gazowym chlorowodorze] OR [Creator = Wolnik Irena] OR [Creator = Wolnik Irena]

Number of results: 918

Items per page:
add all to bibliography

Spis treści. T.43 Nr 2 [2015]

Electronic Materials

2015
Text

Otrzymywanie i własności kompleksów fullerenu z Fe = The preparation and properties of Fe fullerene complex

Kowalska Ewa

1999
Text

Badanie heterostruktur związków AIIIN zawierających warstwy ultracienkie = The investigation of heterostructures based on AIIIN compounds with ultra thin crystalline layers

Wójcik Marek

2008
Text

Wpływ udziału ziaren SiC na zjawisko krzywych R w spiekach Al2O3 = Effect if SiC particulate addition on R-curve behaviour of alumina

Tomaszewski Henryk

1998
Text

Wpływ na własności półizolacyjnych monokryształów arsenku galu = Influence of carbon on semi-insulating GaAs crystals

Strzelecka Stanisława

1996
Text

Elektryczne i optyczne metody charakteryzacji półizolacyjnych monokryształów fosforku indu domieszkowanych żelazem = Characterization of semi-insulating InP:Fe by electrical and optical measurements

Strzelecka Stanisława

1992
Text

Analiza defektów występujących w strukturze krzemu na podstawie obserwacji taśm krzemowych otrzymywanych metodą EFG. Part 1. = Analysis of the defects occuring in the silicon structure on the base of EPG silicon ribbon observation. Part 1

Ciszewski Bohdan

1980
Text

Investigation of LTCC thermistor properties = Badanie właściwości termistorów wy7konanych na podłożach LTCC

Jurków Dominik

2008
Text

Super pacitors in stand-alone PV systems with instantaneous high output energy pulses = Superkondensatory w indywidualnych instalacjach PV o dużych chwilowych impulsach energii

Grzesiak Wojciech

2009
Text

Opracowanie wzorców używanych przy określeniu czystości materiałów elektronicznych metodami spektroskopowymi = Synthetic standards for trace analysis of electronic materials by atomic spectrometry techniques

Sokołowska Wanda

1992
Text

Determination of the thickness of BN layers on the Al2O3substrate by FT-IR spectroscopy

Możdżonek Małgorzata Caban Piotr Gaca Jarosław Wójcik Marek Piątkowska Anna

2020
Book/Chapter

Analiza profilu rentgenowskiego widma dyfrakcyjnego w przypadku jednowymiarowej modulacji składu chemicznego. Praca doktorska = Analysis of the X-ray diffraction pattern profile in the case of one-dimensional modulation of the chemical composition

Gaca Jarosław

1997
Book/Chapter

Otrzymywanie i własności fullerenów i fullerytów z atomami metali przejściowych. Rozprawa doktorska = Preparation and properties of fullerenes and transition metals containing fullerides

Kowalska Ewa

2002
Book/Chapter

Wpływ przestrzennego rozkładu temperatury podczas krystalizacji metodą Czochralskiego na wielkość naprężeń w wybranych kryształach tlenkowych . Praca doktorska = Influence of spatial temperature distribution on the value of stress in Czochralski grown some oxide crystals

Gałązka Zbigniew

1997
Book/Chapter

Miedź jako modyfikator mechanizmu oddziaływania międzyfazowego w procesie wytwarzania materiału srebro-nikiel o mikrostrukturze włóknistej. Rozprawa doktorska = Cooper as a modifier of interfacial interaction mechanism in the production of silver-nickel material with a fibrous structure

Wehr Anna

1994
Book/Chapter

Analiza właściwości dwuwiązkowego interferometru siatkowego z laserem półprzewodnikowym. = Analysis of the properties of double - beam grating interferometer with semiconductor laser

Kozłowska Anna

1997
Text

Własności mikrostrukturalne i tribologiczne cienkich warstw modyfikowanych wiązkami jonów = Microstructural and tribological properties of thin ion-beam modified layers

Piątkowska Anna

2002
Text

Wpływ zawartości płytkich domieszek na właściwości i koncentrację głębokich centrów defektowych w monokryształach SiC. Praca doktorska = Effect shallow impurities on the properties and concentrations of deep-level defect centres in SiC

Kozubal Michał

2011
Book/Chapter

Metoda określenia stałych materiałowych sprężystości i własności termofizycznych materiałów ceramicznych. = The method of determining the elastic constants and thermophysical properties of ceramic materials

Bukat Andrzej

2006
Text

Wyznaczenie stałych mechanicznych, piezoelektrycznych i dielektrycznych kryształu NdCa4O(BO3)3 z pomiarów akustycznych fal powierzchniowych. Rozprawa doktorska = Determination of mechanical, piezoelektric and dielectric contants of NdCa4O(BO3)3 ctystals from measurements of surface acoustic waves

Brzozowski Ernest

2011
Book/Chapter

Technologia wytwarzania i optymalizacja parametrów dyfrakcyjnych elementów optycznych otrzymywanych przy użyciu elektronolitografii. Publiczna obrona rozprawy doktorskiej = Fabrication technology and optimization of diffractic optical elements obtained by using electron beam lithography

Kowalik Andrzej

2007
Book/Chapter

Wysokotemperaturowe właściwości tribologiczne azotku molibdenu ypsilon - Mo2N domieszkowanego miedzią. = High temperature tribological properties of copper-doped molybdenum nitride ypsilon-Mo2N

Suszko Tomasz

2005
Text

Polarymetryczna metoda badania dyspersji dwójłomności w kryształach = Polarimetric method of birefringence dispersion investigation in crystals

Bajor Andrzej Leopold

2004
Text

Rentgenodyfrakcyjna analiza odkształceń koherentnych w półprzewodnikowych strukturach warstwach AIIIBV. praca doktorska = X-ray diffractiometric analysis of coherence deformation in AIIIBV semiconductor layered structures

Sass Jerzy

1998
Book/Chapter

Fosforowane włókna fotoniczne domieszkowane iterbem do zastosowań. Rozprawa doktorska = Ytterbian doped phosphate photonic fiber for laser applicationslaserowych. Rozprawa doktorska

Franczyk Marcin

2012
Book/Chapter

Technical contact

Address

Institute of Electronic Materials Technology
ul. Wólczyńska 133
01-919 Warszawa, Poland

Financing:

Project I

Project "Digital Repository of Scientific Institutes" [RCIN] co-financed by Programme Innovative Economy, 2010-2014, Priority Axis 2. R&D infrastructure ; European Union. European Regional Development Fund.




Project II

Project "Open Resources in the Digital Repository of Scientific Institutes" [OZwRCIN] co-financed by Operational Program Digital Poland, 2014-2020, Measure 2.3: Digital accessibility and usefulness of public sector information; funds from the European Regional Development Fund and national co-financing from the state budget.





Partners funds

Works related to making new facilities available in the RCIN service are also co-financed by the Partners.

Partnership:

Website created by

INSTYTUT MATEMATYCZNY PAN ; INSTYTUT ARCHEOLOGII I ETNOLOGII POLSKIEJ AKADEMII NAUK ; INSTYTUT BADAŃ LITERACKICH POLSKIEJ AKADEMII NAUK ; INSTYTUT BADAŃ SYSTEMOWYCH PAN ; INSTYTUT BADAWCZY LEŚNICTWA ; INSTYTUT BIOLOGII DOŚWIADCZALNEJ IM. MARCELEGO NENCKIEGO POLSKIEJ AKADEMII NAUK ; INSTYTUT BIOLOGII SSAKÓW POLSKIEJ AKADEMII NAUK ; INSTYTUT BOTANIKI IM. WŁADYSŁAWA SZAFERA POLSKIEJ AKADEMII NAUK ; INSTYTUT CHEMII BIOORGANICZNEJ POLSKIEJ AKADEMII NAUK ; INSTYTUT CHEMII FIZYCZNEJ PAN ; INSTYTUT CHEMII ORGANICZNEJ PAN ; INSTYTUT DENDROLOGII POLSKIEJ AKADEMII NAUK ; INSTYTUT FILOZOFII I SOCJOLOGII PAN ; INSTYTUT GEOGRAFII I PRZESTRZENNEGO ZAGOSPODAROWANIA PAN ; INSTYTUT HISTORII im. TADEUSZA MANTEUFFLA POLSKIEJ AKADEMII NAUK ; INSTYTUT JĘZYKA POLSKIEGO POLSKIEJ AKADEMII NAUK ; INSTYTUT MEDYCYNY DOŚWIADCZALNEJ I KLINICZNEJ IM.MIROSŁAWA MOSSAKOWSKIEGO POLSKIEJ AKADEMII NAUK ; INSTYTUT OCHRONY PRZYRODY POLSKIEJ AKADEMII NAUK ; INSTYTUT PODSTAWOWYCH PROBLEMÓW TECHNIKI PAN ; INSTYTUT SLAWISTYKI PAN ; INSTYTUT SYSTEMATYKI I EWOLUCJI ZWIERZĄT POLSKIEJ AKADEMII NAUK ; MUZEUM I INSTYTUT ZOOLOGII POLSKIEJ AKADEMII NAUK ; SIEĆ BADAWCZA ŁUKASIEWICZ - INSTYTUT TECHNOLOGII MATERIAŁÓW ELEKTRONICZNYCH ; INSTYTUT HISTORII NAUKI IM. LUDWIKA I ALEKSANDRA BIRKENMAJERÓW POLSKIEJ AKADEMII NAUK ; INSTYTUT NAUK EKONOMICZNYCH POLSKIEJ AKADEMII NAUK ;

This page uses 'cookies'. More information