Filters
How to search... Advanced search
RCIN and OZwRCIN projects

Search for: [Subject and Keywords = Electronic \- journal \- material] OR [Subject and Keywords = Electronic materials] OR [Subject and Keywords = densification] OR [Subject and Keywords = density] OR [Subject and Keywords = tungsten] OR [Subject and Keywords = Materiały elektroniczne] OR [Subject and Keywords = Elektronika \- czasopismo \- materiały] OR [Subject and Keywords = zagęszczanie] OR [Subject and Keywords = gęstość dyslokacji] OR [Subject and Keywords = wolfram = W.] OR [Title = Badania dla uzyskania wolframu o wysokiej gęstości = Hot isostatic pressing of tungsten] OR [Title = Badania dla uzyskania wolframu o wysokiej gęstości] OR [Creator = Kostkowski Andrzej] OR [Creator = Kostkowski Andrzej]

Number of results: 917

Items per page:
add all to bibliography

Wzrost i właściwości scyntylacyjne monokryształów LuAlO3 = Growth and scintillation properties of LuAlO3 crystals

Gałązka Z.

2002
Text

Otrzymywanie warstw SiCN metoda RF sputteringu = SiCN films deposited by RF magnetron sputtering

Stańczyk Beata

2011
Text

Ocena stopnia zdefektowania warstwy ładunku przestrzennego dyfuzyjnych złącz p-n w arsenku galu = The evaluation of space charge layer defects in gallium arsenide diffusion p-n junctions

Pietras Edward

1975
Text

Spiekanie pod ciśnieniem proszków Al2O3 = Pressure sintering of Al2O3 powders

Jakowlew Bolesław

1975
Text

Wady krystalograficzne i przebicia mikroplazmowe w epitaksjalnych złączach p-n = Structural defects and microplasma breakdowns in epitaxial p-n layers

Magden I.N

1975
Text

Badanie dyslokacji w krzemie i w krzemowych warstwach epitaksjalnych za pomocą rentgenowskiej topografii odbiciowej metodą Berga-Barretta = The investigation of dislocations in Si and in epitaxial Si layers by Berg-Barret x-ray reflection topography

Wierzchowski Wojciech

1975
Text

Zastosowanie metody mikroanalizy rentgenowskiej do badania składu chemicznego warstw epitaksjalnych związków potrójnych grupy AIIIBV na przykładzie GA1-xAlxAs = X-ray microanalysis application for the investigation of epitaxial layer chemical composition of AIIIBV group triple compounds with the Ga1-x\alx\as as a representative of this group

Kozłowska Halina

1974
Text

Przegląd własności fizykochemicznych i technologii otrzymywania trójtlenku boru do celów półprzewodnikowych = Physical and chemical properties and the production methods of boron oxide for semiconductors - a review

Rećko Wacław

1975
Text

Warstwy epitaksjalne GaAs1-xPx dla przyrządów świecących = GaAs1-xPx epitaxial layers for lighting diodes

Brzozowski Waldemar

1974
Text

Formy do niskociśnieniowego prasowania przetłocznego = Moulds for low pressure transfer moulding

Nowacki Janusz

1974
Text

Spektrograficzna analiza tlenku glinu do produkcji ceramiki wysokoalundowej = Spectrographic analysis of aluminum oxide for production of high alumina content ceramics

Sokołowska Wanda

1974
Text

Evaluation of electrical properties of Eu and Pd-doped titanium dioxide thin films deposited on silicon = Badanie właściwości elektrycznych cienkich warstw TiO2 domieszkowanych Eu i Pd naniesionych na podłoża krzemowe

Prociow Eugeniusz L.

2008
Text

Zastosowanie metody Muellera do analizy zjawiska dwójłomności wymuszonej mechanicznie w materiałach półprzewodnikowych = Application of the Mueller calculus for the analysis of stress-induced birefingence in semiconductors

Bajor Andrzej

1988
Text

Spis treści 1976 nr 3(15) = Contents 1976 nr 3(15)

1976
Text

Właściwości mechaniczne przeświecalnego spinelu MgAl2O4 = Mechanical properties of translucent MgAl2O4 spinel

Boniecki Marek

2012
Text

Spis treści 2013 T.41 nr 3 = Contents 2013 T.41 nr 3

2013
Text

Spis treści. T. 43 Nr 4 [2015]

Materiały Elektroniczne

2015
Book/Chapter

Spis treści. T. 43 Nr 3 [2015]

Materiały Elektroniczne

2015
Text

MMIC'S on gallium arsenide developed in the Institute of Electronic Materials Technology

Dobrzański Lech

1992
Text

Badania nad otrzymywaniem tytanianów metali dwuwartościowych w postaci proszków ceramicznych o wysokiej czystości idyspersji = Investigations of obtaining of bivalent metals titanates in the form of high purity and dispersion ceramic powders

Puff Z.

1992
Text

Characterization of epitaxial silicon for MOS VLSI IC by deep level transsient spectroscopy and minority carrier lifetime measurements =

Nossarzewska-Orłowska Elżbieta

1992
Text

Metody charakteryzacji półizolacyjnych monokryształów GaAs = Methods of semi-insulating GaAs monocrystals characterisation

Strzelecka Stanisława

1992
Text

Metalowy szablon o zróżnicowanej grubości technologii montażu powierzchniowego = Metal "Step Stencil" with differentiated thickness for printing solder paste in surface mounting technology (SMT)

Cendrowski Sławomir

1997
Text

Wytrzymałość mechaniczna i temperaturowa kołowo-symetrycznych warstwowych złączy ceramiczno-metalowych = The mechanical and thermal strength of circular-symmetric multilayer vferamic-metal joints

Kujawa Ewa

1992
Text

Spis treści. T.43 Nr 2 [2015]

Electronic Materials

2015
Text

Technical contact

Address

Institute of Electronic Materials Technology
ul. Wólczyńska 133
01-919 Warszawa, Poland

Financing:

Project I

Project "Digital Repository of Scientific Institutes" [RCIN] co-financed by Programme Innovative Economy, 2010-2014, Priority Axis 2. R&D infrastructure ; European Union. European Regional Development Fund.




Project II

Project "Open Resources in the Digital Repository of Scientific Institutes" [OZwRCIN] co-financed by Operational Program Digital Poland, 2014-2020, Measure 2.3: Digital accessibility and usefulness of public sector information; funds from the European Regional Development Fund and national co-financing from the state budget.





Partners funds

Works related to making new facilities available in the RCIN service are also co-financed by the Partners.

Partnership:

Website created by

INSTYTUT MATEMATYCZNY PAN ; INSTYTUT ARCHEOLOGII I ETNOLOGII POLSKIEJ AKADEMII NAUK ; INSTYTUT BADAŃ LITERACKICH POLSKIEJ AKADEMII NAUK ; INSTYTUT BADAŃ SYSTEMOWYCH PAN ; INSTYTUT BADAWCZY LEŚNICTWA ; INSTYTUT BIOLOGII DOŚWIADCZALNEJ IM. MARCELEGO NENCKIEGO POLSKIEJ AKADEMII NAUK ; INSTYTUT BIOLOGII SSAKÓW POLSKIEJ AKADEMII NAUK ; INSTYTUT BOTANIKI IM. WŁADYSŁAWA SZAFERA POLSKIEJ AKADEMII NAUK ; INSTYTUT CHEMII BIOORGANICZNEJ POLSKIEJ AKADEMII NAUK ; INSTYTUT CHEMII FIZYCZNEJ PAN ; INSTYTUT CHEMII ORGANICZNEJ PAN ; INSTYTUT DENDROLOGII POLSKIEJ AKADEMII NAUK ; INSTYTUT FILOZOFII I SOCJOLOGII PAN ; INSTYTUT GEOGRAFII I PRZESTRZENNEGO ZAGOSPODAROWANIA PAN ; INSTYTUT HISTORII im. TADEUSZA MANTEUFFLA POLSKIEJ AKADEMII NAUK ; INSTYTUT JĘZYKA POLSKIEGO POLSKIEJ AKADEMII NAUK ; INSTYTUT MEDYCYNY DOŚWIADCZALNEJ I KLINICZNEJ IM.MIROSŁAWA MOSSAKOWSKIEGO POLSKIEJ AKADEMII NAUK ; INSTYTUT OCHRONY PRZYRODY POLSKIEJ AKADEMII NAUK ; INSTYTUT PODSTAWOWYCH PROBLEMÓW TECHNIKI PAN ; INSTYTUT SLAWISTYKI PAN ; INSTYTUT SYSTEMATYKI I EWOLUCJI ZWIERZĄT POLSKIEJ AKADEMII NAUK ; MUZEUM I INSTYTUT ZOOLOGII POLSKIEJ AKADEMII NAUK ; SIEĆ BADAWCZA ŁUKASIEWICZ - INSTYTUT TECHNOLOGII MATERIAŁÓW ELEKTRONICZNYCH ; INSTYTUT HISTORII NAUKI IM. LUDWIKA I ALEKSANDRA BIRKENMAJERÓW POLSKIEJ AKADEMII NAUK ; INSTYTUT NAUK EKONOMICZNYCH POLSKIEJ AKADEMII NAUK ;

This page uses 'cookies'. More information