Search for: [Subject and Keywords = Electronic \- journal \- materials] OR [Subject and Keywords = Electronic \- materials] OR [Subject and Keywords = defect] OR [Subject and Keywords = silicon ribbon] OR [Subject and Keywords = EFG method] OR [Subject and Keywords = Elektronika \- czasopismo \- materiały] OR [Subject and Keywords = Materiały elektroniczne] OR [Subject and Keywords = defekt] OR [Subject and Keywords = taśma krzemowa] OR [Subject and Keywords = metoda EFG] OR [Title = Analiza defektów występujących w strukturze krzemu na podstawie obserwacji taśm krzemowych otrzymanych metodą EPG. Cz. II = An analysis of the defects occuring in silicon structure on the base of EPG silicon ribbon observation. Part II] OR [Title = Analiza defektów występujących w strukturze krzemu na podstawie obserwacji taśm krzemowych otrzymanych metodą EPG, Cz. II] OR [Creator = Ciszewski Bohdan] OR [Creator = Ciszewski Bohdan]

Number of results: 927

Items per page:

add all to bibliography

of 38 Next

Analiza defektów występujących w strukturze krzemu na podstawie obserwacji taśm krzemowych otrzymywanych metodą EFG. Part 1. = Analysis of the defects occuring in the silicon structure on the base of EPG silicon ribbon observation. Part 1

Ciszewski Bohdan

1980

Text

Stan i perspektywy rozwoju metalurgii proszków = Condition and perspectives of the development of powder metallurgy

Ciszewski Bohdan

1990

Text

Wzrost kryształów profilowanych z fazy ciekłej. Cz. II Krystalizacja taśm krzemowych metodą EFG = Growth of profile crystals from the melt. Part II: Crystallization of silicon ribbons by EFG method

Jakubicki Wojciech

1977

Text

Materiały magnetyczne twarde, ich rozwój w wieku XX = Hard magnetic materials: development over XX century

Ciszewski Bohdan

1994

Text

Badanie defektów typu 'antisite" w kryształach AIIIBV metodą EPR = Electron Spin resonanc e of AsGa "antisite" defects in crystal type AIIIBV

Jabłoński Ryszard

1986

Text

Elektrycznie czynne defekty w krzemie domieszkowanych fosforem poprzez neutronową transmutację krzem-fosfor = Electrically active in silicon doped by neutron transmulation: silicon-phosphorus

Nowysz Karol

1985

Text

Defekty strukturalne w monokryształach GaAs o niskiej gęstości dyslokacji = Structural defects in low-dislocation GaAs single crystals

Pawłowska Marta

1988

Text

Defekty struktury w kryształach ADP (NH4H2PO4) = Structure defects in ADP (NH4H2PO4) single crystals

Wieteska Krzysztof

1978

Text

Wpływ warunków krystalizacji na powstawanie defektów w kryształach czteroboranu litu = A dependence of defective structure of lithium tetraborate crystals on growth condictions

Kisielewski Jarosław

1998

Text

Własności linii wW w MCz-Si i FZ-Si naświetlanym neutronami = Optical properties of W line for neutron irradiated MCz-Si and FZ-Si

Surma Barbara

2010

Text

Defekty wzrostowe w kryształach granatu gadolinowo-galowego = Growth defects in single crystals of gadolinium gallium garnet

Naumowicz Piotr

1984

Text

Niektóre defekty obserwowane w homoepitaksjalnych warstwach krzemu = Some of observed defects in silicon homoepitaxial layers

Nossarzewska-Orłowska Elżbieta

1976

Text

Charakteryzacja defektów paramagnetycznych w związkach półprzewodnikowych typu AIIIBV metodą ESR = Characterisation of paramagnetic defects in semiconductor compunds of AIIIBV type with ESR methodn

Palczewska Maria

1995

Text

Radiation-induced defects formation in Bi-containing vitreous chalcogenides = Defekty poradiacyjne w bizmutowych chalkogenidach szklistych

Shpotyuk Oleg

1997

Text

Wpływ gęstości dyslokacji na strukturę defektową warstw epitaksjalnych GaAs0.6:Te = Dislocation effect on electron trap concentration in Te-doped GaAs0.6P0.4

Kamiński Paweł

1986

Text

Defekty paramagnetyczne w wolframianie ołowiowym (PbWO4) = Paramagnetic defects in PbWO4

Jabłoński Ryszard

1997

Text

Badanie aktywności elektrycznej defektów strukturalnych w monokryształach półprzewodnikowych = Investigation of the electrical activity of structural defects in semiconductors monocrystals

Pawłowska Marta

1986

Text

Widmo EPR transmutowanego krzemu = EPR spectra in neutron-irradiated silicon

Jabłoński Ryszard

1984

Text

Badanie defektów krystalograficznych generowanych w trakcie operacji wytwarzania tranzystora p-n-p = Examination of crystallographic defects during p-n-p transistor process technology

Hofman Władysław

1979

Text

Deep-level deffects in epitaxial 4H-SiC irradiated with low-energy electrons = Głębokie centra defektowe w warstwach epitaksjalnych 4H-SiC napromieniowanych elektronami o niskiej energii

Kamiński Paweł

2010

Text

Metody ujawniania, klasyfikacja i ocena struktury defektów typu SWIRLS w bezdyslokacyjnych monokryształach krzemu, otrzymywanych metodą beztyglowego topienia strefowego = The methods of revealing, clasification and "swirls" defects in the dislocation free float-zone silicon crystals

Jeske Witlod

1976

Text

Pewne własności defektów typu "antisite" w napromieniowanym neutronami termicznymi arsenku galu = On some properties of "antisite" defects in neutron irradiated GaAs

Wosik Jarosław

1986

Text

O defektach sieci przestrzennej kryształów badanych metodami rentgenowskimi = Lattice defects studied by x-ray methods

Badzian Andrzej

1984

Text

Badania metodami rentgenowskiej topografii dyfrakcyjnej defektów strukturalnych monokryształów Y2Al5O12 silnie domieszkowanych neodymem = The investigation of structural defects in the heavily Nd - doped YAG crystals by means of \\x-ray diffraction topography

Mazur Krystyna

1988

Text

Generacja defektów w czasie dyfuzji cynku do arsenku galu = Generation of defects during zinc diffusion in gallium arsenide

Pietras Edward

1975

Text

Filters

Number of results: 927

Technical contact

Address

Financing:

Project I

Project II

Partners funds

Partnership:

Website created by