Filtry
  • Typ zasobu
  • Kolekcje
  • Typ obiektu
  • Typ pliku
  • Format treści
  • Dostępność obiektu
  • Data wydania/powstania Data związana z konkretnym wydarzeniem cyklu życia zasobu.
  • Dostęp
Jak wyszukiwać... Wyszukiwanie zaawansowane
Projekty RCIN i OZwRCIN

Szukana fraza: [Temat i słowa kluczowe = Electronic \- materials] lub [Temat i słowa kluczowe = Electronic \- journal \- materials] lub [Temat i słowa kluczowe = metalizing film] lub [Temat i słowa kluczowe = thickness] lub [Temat i słowa kluczowe = radioactive method] lub [Temat i słowa kluczowe = Elektronika \- czasopismo \- materialy] lub [Temat i słowa kluczowe = Materiały elektroniczne] lub [Temat i słowa kluczowe = warstwa metaliczna] lub [Temat i słowa kluczowe = grubość warstwy] lub [Temat i słowa kluczowe = metoda betaskopowa] lub [Tytuł = Zastosowanie metody betaskopowej do wyznaczania grubości warstw metalizacyjnych na podłożu ceramicznym = The application of radioactive method to thickness measurement of metalizing films on ceramic substrates] lub [Tytuł = Zastosowanie metody betaskopowej do wyznaczania grubości warstw metalizacyjnych na podłożu ceramicznym] lub [Twórca = Pierzchała\-Chylińska, Maria] lub [Twórca = Pierzchała\-Chylińska Maria]

Wyników: 918

Obiektów na stronie:
Dodaj wszystkie do bibliografii

Wzrost i właściwości scyntylacyjne monokryształów LuAlO3

Gałązka Z.

2002
Tekst

Otrzymywanie warstw SiCN metoda RF sputteringu

Stańczyk Beata

2011
Tekst

Ocena stopnia zdefektowania warstwy ładunku przestrzennego dyfuzyjnych złącz p-n w arsenku galu

Pietras Edward

1975
Tekst

Badania nad wpływem rozkładu uziarnienia proszku Al2O3 na gęstość wyrobów ceramicznych

Morawski Jerzy

1975
Tekst

Spiekanie pod ciśnieniem proszków Al2O3

Jakowlew Bolesław

1975
Tekst

Wady krystalograficzne i przebicia mikroplazmowe w epitaksjalnych złączach p-n

Magden I.N.

1975
Tekst

Badanie dyslokacji w krzemie i w krzemowych warstwach epitaksjalnych za pomocą rentgenowskiej topografii odbiciowej metodą Berga-Barretta

Wierzchowski Wojciech

1975
Tekst

Zastosowanie metody mikroanalizy rentgenowskiej do badania składu chemicznego warstw epitaksjalnych związków potrójnych grupy AIIIBV na przykładzie GA1-xAlxAs

Kozłowska Halina

1974
Tekst

Przegląd własności fizykochemicznych i technologii otrzymywania trójtlenku boru do celów półprzewodnikowych

Rećko Wacław

1975
Tekst

Warstwy epitaksjalne GaAs1-xPx dla przyrządów świecących

Brzozowski Waldemar

1974
Tekst

Formy do niskociśnieniowego prasowania przetłocznego

Nowacki Janusz

1974
Tekst

Spektrograficzna analiza tlenku glinu do produkcji ceramiki wysokoalundowej

Sokołowska Wanda

1974
Tekst

Evaluation of electrical properties of Eu and Pd-doped titanium dioxide thin films deposited on silicon

Prociow Eugeniusz L.

2008
Tekst

Zastosowanie metody Muellera do analizy zjawiska dwójłomności wymuszonej mechanicznie w materiałach półprzewodnikowych

Bajor Andrzej

1988
Tekst

Spis treści 1976 nr 3(15)

1976
Tekst

Właściwości mechaniczne przeświecalnego spinelu MgAl2O4

Boniecki Marek

2012
Tekst

Spis treści. T. 43 Nr 4 [2015]

Materiały Elektroniczne

2015
Książka/Rozdział

Spis treści. T. 43 Nr 3 [2015]

Materiały Elektroniczne

2015
Tekst

Spis treści 2013 T.41 nr 3

2013
Tekst

Spis treści 2015 T.43 nr 2

Materiały Elektroniczne

2015
Tekst

MMIC'S on gallium arsenide developed in the Institute of Electronic Materials Technology

Dobrzański Lech

1992
Tekst

Badania nad otrzymywaniem tytanianów metali dwuwartościowych w postaci proszków ceramicznych o wysokiej czystości idyspersji

Puff Z.

1992
Tekst

Characterization of epitaxial silicon for MOS VLSI IC by deep level transsient spectroscopy and minority carrier lifetime measurements

Nossarzewska-Orłowska Elżbieta

1992
Tekst

Metody charakteryzacji półizolacyjnych monokryształów GaAs

Strzelecka Stanisława

1992
Tekst

Metalowy szablon o zróżnicowanej grubości technologii montażu powierzchniowego

Cendrowski Sławomir

1997
Tekst

Kontakt techniczny

Adres

Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych
ul. Wólczyńska 133
01-919 Warszawa

Finansowanie:

Projekt I

Projekt „Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych” [RCIN] współfinansowany przez Unię Europejską ze środków Europejskiego Funduszu Rozwoju Regionalnego w ramach Programu Operacyjnego Innowacyjna Gospodarka na lata 2010-2014, Priorytet 2. Infrastruktura strefy B + R




Projekt II

Projekt „Otwarte Zasoby w Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych” [OZwRCIN] współfinansowany z Europejskiego Funduszu Rozwoju Regionalnego w ramach Programu Operacyjnego Polska Cyfrowa, lata 2014-2020, Działanie 2.3 : Cyfrowa dostępność i użyteczność sektora publicznego oraz środki Partnerów





Środki partnerów

Prace związane z udostępnianiem nowych obiektów w serwisie RCIN, dofinansowywane są również ze środków Partnerów.

Partnerstwo:

Serwis tworzony przez

INSTYTUT MATEMATYCZNY PAN ; INSTYTUT ARCHEOLOGII I ETNOLOGII POLSKIEJ AKADEMII NAUK ; INSTYTUT BADAŃ LITERACKICH POLSKIEJ AKADEMII NAUK ; INSTYTUT BADAŃ SYSTEMOWYCH PAN ; INSTYTUT BADAWCZY LEŚNICTWA ; INSTYTUT BIOLOGII DOŚWIADCZALNEJ IM. MARCELEGO NENCKIEGO POLSKIEJ AKADEMII NAUK ; INSTYTUT BIOLOGII SSAKÓW POLSKIEJ AKADEMII NAUK ; INSTYTUT BOTANIKI IM. WŁADYSŁAWA SZAFERA POLSKIEJ AKADEMII NAUK ; INSTYTUT CHEMII BIOORGANICZNEJ POLSKIEJ AKADEMII NAUK ; INSTYTUT CHEMII FIZYCZNEJ PAN ; INSTYTUT CHEMII ORGANICZNEJ PAN ; INSTYTUT DENDROLOGII POLSKIEJ AKADEMII NAUK ; INSTYTUT FILOZOFII I SOCJOLOGII PAN ; INSTYTUT GEOGRAFII I PRZESTRZENNEGO ZAGOSPODAROWANIA PAN ; INSTYTUT HISTORII im. TADEUSZA MANTEUFFLA POLSKIEJ AKADEMII NAUK ; INSTYTUT JĘZYKA POLSKIEGO POLSKIEJ AKADEMII NAUK ; INSTYTUT MEDYCYNY DOŚWIADCZALNEJ I KLINICZNEJ IM.MIROSŁAWA MOSSAKOWSKIEGO POLSKIEJ AKADEMII NAUK ; INSTYTUT OCHRONY PRZYRODY POLSKIEJ AKADEMII NAUK ; INSTYTUT PODSTAWOWYCH PROBLEMÓW TECHNIKI PAN ; INSTYTUT SLAWISTYKI PAN ; INSTYTUT SYSTEMATYKI I EWOLUCJI ZWIERZĄT POLSKIEJ AKADEMII NAUK ; MUZEUM I INSTYTUT ZOOLOGII POLSKIEJ AKADEMII NAUK ; SIEĆ BADAWCZA ŁUKASIEWICZ - INSTYTUT TECHNOLOGII MATERIAŁÓW ELEKTRONICZNYCH ; INSTYTUT HISTORII NAUKI IM. LUDWIKA I ALEKSANDRA BIRKENMAJERÓW POLSKIEJ AKADEMII NAUK ; INSTYTUT NAUK EKONOMICZNYCH POLSKIEJ AKADEMII NAUK ;

Ta strona wykorzystuje pliki 'cookies'. Więcej informacji