Search for: [Subject and Keywords = Electronic \- journal \- material] OR [Subject and Keywords = Electronic materials] OR [Subject and Keywords = electron probe X\-ray microanalysis] OR [Subject and Keywords = thin layer technology] OR [Subject and Keywords = thin layer] OR [Subject and Keywords = Elektronika \- czasopismo \- materiały] OR [Subject and Keywords = Materiały elektroniczne] OR [Subject and Keywords = mikroanaliza rentgenowska] OR [Subject and Keywords = warstwa cienka] OR [Title = Metody ilościowej mikroanalizy rent5geowskiej cienkich warstw na podłożach = Correction methods in quantitative electron probe X\-ray microanalysis of thin coatings] OR [Title = Metody ilościowej mikroanalizy rentgenowskiej cienkich warstw na podłożach] OR [Creator = Sikorski Krzysztof] OR [Creator = Sikorski Krzysztof]

Number of results: 924

Items per page:

add all to bibliography

of 37 Next

Mikroanaliza rentgenowska cienkich warstw = X-ray microanalysis of thin films

Sikorski Krzysztof

1983

Text

Badanie cienkich warstw magnetycznych granatów metodą FMR = Investigation of thin magnetic films by FMR method

Jabłoński Ryszard

1982

Text

Zaawansowane technologie cienkowarstwowe = Advanced thin layers technics

Strupiński Włodzimierz

1995

Text

Zdejmowanie cienkich warstw z płytek krzemowych metodą utleniania anodowego i rozpuszczania utworzonego tlenku = Removal of thin layers from silicon wafersby means of an anodic oxidation and dissolution of the oxides formed

Jaskólska Halina

1976

Text

Inżynieria Materiałów Elektronicznych. II Seminarium zorganizowane pod patronatem KBN 16 grudnia 1997 roku

1997

Text

Rola czynników eksperymentalnych w mikroanalizie rentgenowskiej pierwiastków lekkich = The role of experimental factors in x-ray microanalysis of light elements

Kaczyński Łukasz

1990

Text

Efekt kontaminacji w mikroanalizie rentgenowskiej =Effect of contamination on X-ray microanalysis

Kaczyński Łukasz

1990

Text

Ilościowa mikroanaliza rentgenowskaiwrwiastków lekkich. Porównanie wyników metod korekcyjnych = A quantitative x-ray microanalysis of lihgt elements. Comparison of methods

Kaczyński Łukasz

1988

Text

Precyzja wyników mikroanalizy rentgenowskiej i metody jej podwyższenia = The X-ray microanalysis precision and methods of its improving

Stróż Kazimierz

1987

Text

Zastosowanie metody mikroanalizy rentgenowskiej do badania składu chemicznego warstw epitaksjalnych związków potrójnych grupy AIIIBV na przykładzie GA1-xAlxAs = X-ray microanalysis application for the investigation of epitaxial layer chemical composition of AIIIBV group triple compounds with the Ga1-x\alx\as as a representative of this group

Kozłowska Halina

1974

Text

Podstawy ilościowej mikroanalizy rentgenowskiej w analitycznej mikroskopii elektronowej = Principles for quantitative X-ray micoanalysis in the analytical electron microscopy

Paduch Józef

1992

Text

Określenie koncentracji jonów Ga3+ w cienkich warstwach magnetycznych grantów = Determination of the concentration of Ga3+ jons in thin magnetic garnet films

Sarnecki Jerzy

1982

Text

Inżynieria Materiałów Elektronicznych. II Seminarium zorganizowane pod patronatem KBN 16 grudnia 1997 roku= Electronic Materials Engineering

1997

Text

Badanie adhezji warstw miedziowych metodą mikroanalizy rentgenowskiej = Investigations of copper films adhesion by x-ray microanalysis

Jakubowska Małgorzata

1993

Text

Metodyka badania warstw epitaksjalnych krzemu za pomocą transmisyjnego mikroskopu elektronowego z zastosowaniem map linii Kikuchi = The method of study for the silicon epitaxial monolayers by means of transmission electron microscope with use of Kikuchi lines map

Rupniewski Wojciech

1979

Text

Badanie powierzchni monokryształów tlenkowych, jej modyfikacja pod kątem zastosowania w epitaksji cienkich warstw = Investigation of surface of oxide single crystals and possibilities of surface modification for thin films applications

Sakowska Hanna

2001

Text

Zastosowanie badań izotopowych do wyznaczania wieku bezwzględnego pokładów geologicznych = Isotopic investigations in determination of geological layers absolute age

Zinkiewicz Janusz M.

1974

Text

Krzemowe warstwy epitaksjalne o zmiennym profilu rezystywności = Silicon epitaxial layers with profiled resistivity

Nossarzewska-Orłowska Elżbieta

1985

Text

Metalizacja dwupoziomowa w monolitycznym mikrofalowym ukadzie scalonym = Two-layer metallization for monolitic microwave solid state structures

Łukasiewicz Teresa

1995

Text

Penetracja wzajemna w układach warstwowych nikiel-srebro i nikiel-miedź-srebro = Investigation of layered Ni-Ag and Ni-Cu-Ag films

Wehr Anna

1993

Text

Krzemowe warstwy epitaksjalne domieszkowane As dla mikrofalowych tranzystorów typu npn = Epitaxial silicon layers As doped for micowave npn transistors

Nossarzewska-Orłowska Elżbieta

1987

Text

Wytwarzanie powłok ceramicznych metodą elektroforezy = Ceramic layers made by electrophoresis

Loiko Edouard M.

2002

Book/Chapter

Epitaksja warstw Er:YAG z fazy ciekłej = The liquid phase epitaxy of Er:YAG layers

Sarnecki Jerzy

1997

Text

Rozkład naprężeń wewnętrznych w mikrowarstwowych kompozytach ceramicznych = Effect of residual stresses in layered ceramic microcomposites on crack propagation during fracture

Tomaszewski Henryk

1998

Text

Przyczyny rozrzutów rezystywności krzemowych warstw epitaksjalnych w układach wielowarstwowych = The effective causes of the nanuniformity of the silicon epitaxial layers resistivity in multilayer structures

Tomaszewski Jacek

1981

Text

Filters

Number of results: 924

Technical contact

Address

Financing:

Project I

Project II

Partners funds

Partnership:

Website created by