Proceedings of ITME 1985 z. 16
31, [2] s. : il. 24 cm. ; Bibliogr. s. [32]
ITME, sygn. dostępny ; kliknij tutaj, żeby przejść
Copyright-protected material. May be used within the limits of statutory user freedoms
Institute of Electronic Materials Technology
Library of the Electronic Materials Technology Institute
Programme Innovative Economy, 2010-2014, Priority Axis 2. R&D infrastructure ; European Union. European Regional Development Fund
2 paź 2020
9 lip 2013
1609
https://rcin.org.pl/itme/publication/17903
Nazwa wydania | Data |
---|---|
Bajor Andrzej, Fotometryczna metoda pomiaru naprężeń w materiałach półprzewodnikowych | 2 paź 2020 |
Bajor Andrzej
Bajor Andrzej L.
Adamkiewicz, Grażyna
Adamkiewicz Grażyna
Bajor Andrzej Leopold
Nikolič P.M.